低溫實(shí)驗(yàn)箱價(jià)格 低溫環(huán)境試驗(yàn)箱價(jià)格 可以編成的濕度試驗(yàn)箱可以用來考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化,產(chǎn)品表面產(chǎn)生低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響,設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗(yàn)規(guī)定的溫度之差不大于8%,且試驗(yàn)樣品不會(huì)受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。參照標(biāo)準(zhǔn):低溫試驗(yàn)箱滿足gb/t 2423.1-2008試驗(yàn)a《低溫試驗(yàn)方法》; gb/t 2423.2-2008試驗(yàn)b《高溫試驗(yàn)方法》以及其它相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求,可進(jìn)行各種高低溫環(huán)境試驗(yàn)。
更新時(shí)間:2021-11-25