ets-406d采用充電法測(cè)試材料的靜電衰減特征, 被測(cè)試材料被固定在試樣夾之間, 高壓直流電源通過(guò)試樣夾給材料充電, 當(dāng)材料上的電壓達(dá)到5000v后, 試樣夾接地, 記錄材料表面電壓衰減時(shí)間. ets 406d符合美國(guó)無(wú)紡布靜電衰減測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)ist 40.2(01), fed-std-101c(method 4046), mil-b-81705c, 中國(guó)gb19082, gjb2605.
更新時(shí)間:2025-06-06