場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡產(chǎn)品及廠(chǎng)家
jem-f200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開(kāi)發(fā)的jem-f200場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿(mǎn)足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀(guān)設(shè)計(jì)精煉，能為不同層次的用戶(hù)提供新奇的操作體驗(yàn)。
更新時(shí)間:2025-08-01
德國(guó)zeiss場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡sigma 300 ，專(zhuān)利gemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性， 卓越的低電壓性能，in lens 探測(cè)器，磁性材料高分辨觀(guān)察。
更新時(shí)間:2025-08-01
thermo scientific helios 5 d ualbeam 產(chǎn)品系列憑借其最先進(jìn)的聚焦離子束和電子束性能、專(zhuān)有軟件、自動(dòng)化和易用性特征，重新定義了樣品制備和三維表征的標(biāo)準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2025-08-01
蔡司公司最新推出的sigma 500/vp場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡采用成熟的gemini光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，分辨率超過(guò)0.8nm，為您提供最高分辨率和最佳分析性能科研平臺(tái)。sigma500/vp專(zhuān)注于一流的eds幾何學(xué)設(shè)計(jì)使您可以獲取精湛的分析性能。借助sigma直觀(guān)便捷的四步工作流程可以快速成像、簡(jiǎn)化分析程序、提高工作效率。您會(huì)比以往更快、更多的獲取數(shù)據(jù)。多種探測(cè)器的選擇使sigma500/vp可以精準(zhǔn)的匹配您的應(yīng)用程序：您可以獲取微小粒子、表面、納米結(jié)構(gòu)、薄膜、涂層和多層的圖像信息！炯夹g(shù)參數(shù)】分辨率： 0.8nm @15 kv 1.6 nm @1kv
更新時(shí)間:2025-07-31
【hitachi】冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡regulus8100易維護(hù)、易操作等優(yōu)點(diǎn)，進(jìn)一步提高性能，1kv減速模式下最高分辨率達(dá)到了0.8nm，15kv達(dá)到0.7nm，高低電壓均可滿(mǎn)足高分辨的觀(guān)察。
更新時(shí)間:2025-07-31
【hitachi】日立高性能鎢燈絲掃描電鏡su3500通過(guò)高畫(huà)質(zhì)提升掃描電鏡的分析能力和操作性, 凝聚日立最先進(jìn)科技“獨(dú)具匠心”。
更新時(shí)間:2025-07-31
【hitachi】日立新型熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡su5000高穩(wěn)定性熱場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)∪碌膃m wizard軟件，無(wú)需設(shè)置參數(shù)即可獲得高質(zhì)量圖片，高分辨率和強(qiáng)大的分析能力，樣品適用性強(qiáng)：不導(dǎo)電樣品直接觀(guān)察（低真空功能，10-300pa）
更新時(shí)間:2025-07-31
日立新型鎢燈絲掃描電鏡flexsem1000 ii 體積小、操作簡(jiǎn)單、性能強(qiáng)（4nm@20kv）、擴(kuò)展功能豐富2. 擁有多個(gè)探測(cè)器（se、bse）3. 擁有低真空功能，不導(dǎo)電和含水樣品直接觀(guān)察
更新時(shí)間:2025-07-31
aerosurf1500可在大氣壓（105pa）下得到sem圖像；2、臺(tái)式掃描電鏡設(shè)計(jì)；3、低真空下成分分析；4、優(yōu)質(zhì)的圖像處理控制；
更新時(shí)間:2025-07-31
日立l型fib-sem-ar三束系統(tǒng)nx9000能夠獲得一系列的截面圖像，從而實(shí)現(xiàn)特定顯微切片的三維結(jié)構(gòu)分析。nx9000中的sem鏡筒和fib鏡筒呈正交結(jié)構(gòu)，而不是常見(jiàn)的對(duì)角構(gòu)造。
更新時(shí)間:2025-07-31
日立高分辨型雙束系統(tǒng)nx5000可以避免樣品損傷，為超薄樣品和復(fù)雜的制備提供了新的解決方案，可以滿(mǎn)足納米材料、半導(dǎo)體材料、生物材料等多種樣品的快速、無(wú)損、精細(xì)加工。
更新時(shí)間:2025-07-31
電子束閘為日立臺(tái)式電鏡和大型掃描電鏡提供了多種附件，包括馬達(dá)臺(tái)、加熱臺(tái)、冷臺(tái)、傾斜旋轉(zhuǎn)臺(tái)、電子束閘、cl探測(cè)器、stem探測(cè)器等。
更新時(shí)間:2025-07-31
日立全新大型鎢燈絲掃描電鏡su3900采用超大的樣品倉(cāng)和多接口設(shè)計(jì)，適合超大樣品的觀(guān)察（直徑300mm）以及多種分析功能的拓展。同
更新時(shí)間:2025-07-31
"regulus系列"是日立高新技術(shù)的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續(xù)機(jī)型開(kāi)發(fā)的 "regulus8100" 以及su8200系列的升級(jí) "regulus8220" "regulus8230" "regulus8240"，共4個(gè)機(jī)型，均實(shí)現(xiàn)了分辨率和操作性的強(qiáng)化。
更新時(shí)間:2025-07-31
【hitachi】日立新型臺(tái)式掃描電鏡tm4000plus可在樣品倉(cāng)內(nèi)加裝光學(xué)相機(jī)來(lái)拍攝照片，以往通過(guò)經(jīng)驗(yàn)尋找目標(biāo)位置*1，現(xiàn)在可在顯示屏上直接操作。在拍攝sem圖像時(shí)，由于“tm4000”和“tm4000plus”配置雙軸馬達(dá)臺(tái)*2，原來(lái)需手動(dòng)調(diào)整的操作，現(xiàn)在只需在顯示器上選擇要觀(guān)察的位置即可。
更新時(shí)間:2025-07-31
【hitachi】日立120kv透射電鏡ht7800 很好地繼承了日立120kv-tem的基本理念，兼顧低倍率與寬視野觀(guān)察、高襯度與高分辨率觀(guān)察，可在同一儀器上一鍵切換等。集高襯度和高分辨兩種模式于一體，可同時(shí)滿(mǎn)足軟材料/納米材料類(lèi)和生命科學(xué)類(lèi)客戶(hù)對(duì)電鏡的需求。
更新時(shí)間:2025-07-31
【hitachi】su9000新型超高分辨冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡采取了全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。
更新時(shí)間:2025-07-31
日立高分辨鎢燈絲掃描電鏡su3800采用全新的hexbias偏壓技術(shù)，使其低電壓性能大大提升，同時(shí)升級(jí)的高靈敏度背散射探測(cè)器和可變壓力探測(cè)器使得su3800的觀(guān)察能力進(jìn)一步提升。
更新時(shí)間:2025-07-31
日立透射電鏡ht7820 繼承了標(biāo)準(zhǔn)版ht7800高速cmos熒光屏相機(jī)設(shè)計(jì)、全數(shù)字化、大集成等優(yōu)點(diǎn)和創(chuàng)新點(diǎn)，仍然采用第二代雙隙物鏡的設(shè)計(jì)，設(shè)計(jì)使用高分辨物鏡，標(biāo)配lab6燈絲，性能實(shí)現(xiàn)突破性提升。
更新時(shí)間:2025-07-31
su7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫(huà)質(zhì)圖像，而且還可以同時(shí)接收多種信號(hào)。此外，它還具備大視野觀(guān)察、in-situ觀(guān)察等f(wàn)e-sem的眾多卓越性能。su7000是一臺(tái)實(shí)現(xiàn)了信息獲取量大化的新型掃描電鏡，可以滿(mǎn)足客戶(hù)的多種觀(guān)察需求。
更新時(shí)間:2025-07-31
創(chuàng)新的“em wizard”界面更加直觀(guān)，僅需要“點(diǎn)擊”即可得到完美的圖像。超的電腦輔助技術(shù)將電鏡的操作與控制提升到一個(gè)新水平。
更新時(shí)間:2025-07-31
門(mén)為電子束敏感樣品和需大300萬(wàn)倍穩(wěn)定觀(guān)察的先進(jìn)半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-07-31
現(xiàn)有機(jī)型su8240,su8230,su8220及su8010重新整合，衍生而成regulus8240、regulus8230、regulus8220、regulus8100。
更新時(shí)間:2025-07-31
sigma是一款具有 gemini 鏡筒設(shè)計(jì)，用于成像及分析應(yīng)用的高性能熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡。gemini 鏡筒的特點(diǎn)是高亮度肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源、電子束加速器和 in-lens 二次電子探測(cè)器。在獲得高成像質(zhì)量的基礎(chǔ)上還具有良好的易用性。
更新時(shí)間:2025-07-30
日立高新技術(shù)公司（以下簡(jiǎn)稱(chēng)：日立高新）8月4日開(kāi)始發(fā)售的肖特基式場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡“su5000“，搭載了全新的用戶(hù)界面和“em wizard“，無(wú)論用戶(hù)的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
更新時(shí)間:2025-07-22
超大樣品臺(tái)（標(biāo)配，僅適用于 phenom xl）phenom xl 電鏡腔室由原來(lái)的 32 mm 擴(kuò)容為 100 mm x 100 mm，一次可容納至多 36 個(gè) 1/2 英寸樣品臺(tái)樣品最大尺寸：長(zhǎng) 100 mm；寬 100 mm；高度 65 mm用這個(gè)樣品臺(tái)可以對(duì)各種各樣的樣品成像
更新時(shí)間:2025-07-14
日立高新熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡這次新開(kāi)發(fā)的"su5000"對(duì)用戶(hù)沒(méi)有任何操作技巧上的要求，通過(guò)”em wizard“只要選擇好觀(guān)察目的就可以得到好照片。"em wizard"以人為本的設(shè)計(jì)理念使電鏡的操作性大幅上升，對(duì)于用戶(hù)來(lái)說(shuō)，再也不用去討論該用什么條件進(jìn)行觀(guān)察，只要按照觀(guān)察目的選擇”表面細(xì)節(jié)觀(guān)察“或是”成分分布“等就可以自動(dòng)將適合的觀(guān)察條件設(shè)置好。除此之外，使用經(jīng)驗(yàn)豐富的操作人員也可以像往常一樣
更新時(shí)間:2025-07-10
日立肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡su8700fe-sem獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對(duì)簡(jiǎn)單，并且它可以觀(guān)察、測(cè)量并分析樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)，因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等領(lǐng)
更新時(shí)間:2025-07-10
日立高新熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡su5000--搭載用戶(hù)界面，向所有用戶(hù)提供高畫(huà)質(zhì)圖像-- 日立高新技術(shù)公司（以下簡(jiǎn)稱(chēng)：日
更新時(shí)間:2025-07-10
日立肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡此外，為一次性獲取大量信息，單次掃描像素?cái)U(kuò)展到了40,960 x 30,720（選配），是之型號(hào)的64倍。利用這一功能，可憑借一張數(shù)據(jù)圖像有效評(píng)估多處局部的細(xì)微結(jié)構(gòu)。在fe-sem的觀(guān)察和分析中，需要根據(jù)測(cè)量樣品與需求調(diào)整觀(guān)察條件。調(diào)整所需時(shí)間的長(zhǎng)短取決于用戶(hù)的操作熟練度，這是造成數(shù)據(jù)質(zhì)量與效率差異的因素之一。此系列產(chǎn)品標(biāo)配自動(dòng)調(diào)整功能，可避免人為操作導(dǎo)
更新時(shí)間:2025-07-10
日立大型掃描電鏡近年來(lái)為了實(shí)現(xiàn)各種材料的高功能化和高性能化，需要觀(guān)察并優(yōu)化材料的微細(xì)結(jié)構(gòu)。目sem的應(yīng)用除了以往的研究開(kāi)發(fā)以外，已擴(kuò)展到質(zhì)量和生產(chǎn)管理方面，使用頻率日益高漲。同時(shí)市場(chǎng)也對(duì)儀器的操作性能提出了更高的要求，以進(jìn)一步減輕操作人員的負(fù)擔(dān) 此次發(fā)
更新時(shí)間:2025-07-10
可根據(jù)不同樣品設(shè)置不同的觀(guān)察條件 樣品倉(cāng)內(nèi)的真空度及加速電壓有多種選擇，可根據(jù)需求自行設(shè)置。簡(jiǎn)化尋找視野、圖像拍攝、圖像確認(rèn)等一系列操作過(guò)程（選配） 在樣品倉(cāng)上可選配光學(xué)相機(jī)，樣品開(kāi)始觀(guān)察先拍攝樣品的整體照片，雙擊照片上的樣品，即可實(shí)現(xiàn)照片導(dǎo)航功能。
更新時(shí)間:2025-07-10
日立中型掃描電鏡su38001) 支持超大/超重樣品測(cè)試 可搭載的 大樣品尺寸：“su3800” 標(biāo)配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉(cāng)，可應(yīng)對(duì) 大高度為80mm、重量為2k
更新時(shí)間:2025-07-10
日立臺(tái)式掃描電鏡tm4000 ii / tm4000plus i臺(tái)式顯微鏡作為掃描電子顯微鏡（sem）在生物技術(shù)和材料等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。該系列由日立高新技術(shù)于2005年4月開(kāi)始銷(xiāo)售，可放在辦公桌上，
更新時(shí)間:2025-07-10
日立大型掃描電鏡su3900在以納米技術(shù)和生物技術(shù)為主的產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域里，從物質(zhì)的微細(xì)結(jié)構(gòu)到組成成分，sem在多種多樣的觀(guān)察與分析中得到了靈活應(yīng)用。sem用途日益擴(kuò)大，但對(duì)于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車(chē)零配件等超大
更新時(shí)間:2025-07-10
zeiss商業(yè)化電鏡的歷史和經(jīng)驗(yàn)已超過(guò)60年，其技術(shù)先進(jìn)、性能卓越，在失效分析以及各種分析研究中具有廣泛的應(yīng)用。zeiss不斷追求、推出新的技術(shù)和新的產(chǎn)品，使其成為不僅可拍攝高分辨率圖像，還可以完成各種各樣的分析研究，更加體現(xiàn)zeiss電子顯微鏡高價(jià)值 和高利用性。
更新時(shí)間:2025-07-05
zeiss σigma 電鏡為肖特基（schottky）熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡。目前歐美地區(qū)比較推崇熱場(chǎng)發(fā)射電鏡，而日本較熱衷于冷場(chǎng)發(fā)射電鏡。該場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡主要有如下特點(diǎn)：
更新時(shí)間:2025-07-05
設(shè)計(jì)用于冶金/金相樣品的觀(guān)察（鑲嵌在樹(shù)脂里）最大尺寸：直徑32mm；高度30mm
更新時(shí)間:2025-06-27
微型電子元器件插件是設(shè)計(jì)用來(lái)最小化制樣時(shí)間的。插件配合金相樣品杯使用。
更新時(shí)間:2025-06-27
微型電子元器件插件是設(shè)計(jì)用來(lái)最小化制樣時(shí)間的。插件配合金相樣品杯使用。
更新時(shí)間:2025-06-27
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀(guān)察納米或者亞微米樣品的微觀(guān)結(jié)構(gòu)；诟吡炼 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，phenom pure 的分辨率輕松達(dá)到 10 nm，同時(shí)具有全自動(dòng)操作、15 快速抽真空、不噴金觀(guān)看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-06-27
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀(guān)察納米或者亞微米樣品的微觀(guān)結(jié)構(gòu)；诟吡炼 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，phenom pure 的分辨率輕松達(dá)到 10 nm，同時(shí)具有全自動(dòng)操作、15 快速抽真空、不噴金觀(guān)看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-06-27
秉承飛納臺(tái)式掃描電鏡系列全自動(dòng)操作、快速成像、不噴金觀(guān)看不導(dǎo)電樣品、完全防震、性能穩(wěn)定的特點(diǎn)，荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源臺(tái)式掃描電鏡 phenom pharos g2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源，使用戶(hù)可以輕松獲得高分辨率圖像，分辨率優(yōu)于 1.5nm
更新時(shí)間:2025-06-27
暗明場(chǎng)成像原理:晶體薄膜樣品明暗場(chǎng)成像的襯度(即不同區(qū)域的亮暗差別),是由于樣品相應(yīng)的不同部位結(jié)構(gòu)或取向的差別導(dǎo)致衍射強(qiáng)度的差異而形成的,因此稱(chēng)其為衍射襯度,以衍射襯度機(jī)制為主而形成的圖像稱(chēng)為衍襯像。如果只允許透射束通過(guò)物鏡光欄成像,稱(chēng)其為
更新時(shí)間:2025-06-26
shnti的x-射線(xiàn)薄膜窗能夠?qū)崿F(xiàn)軟x-射線(xiàn)(如真空紫外線(xiàn))的最大透射率。主要用于同步輻射x射線(xiàn)透射顯微成像時(shí)承載樣品。 x-射線(xiàn)越軟(能量越低)，穿透能力越差，所需氮化硅薄膜窗越薄。特別在“離軸”狀態(tài)工作（即薄膜與光束成一定角度）時(shí)，也需要較薄的薄膜窗口，便于x射線(xiàn)更好地穿透。
更新時(shí)間:2025-06-25
最新產(chǎn)品
- Follistatin-like 1/FSTL1 蛋白 2025/8/1 15:39:30
- OGG1 蛋白 2025/8/1 15:39:28
- SUMO2 蛋白 2025/8/1 15:39:26
- Serpin A5 蛋白 2025/8/1 15:39:24
- TIM-4/TIMD-4 蛋白 2025/8/1 15:39:22
- WIF-1 蛋白 2025/8/1 15:39:21
- VSIG4 蛋白 2025/8/1 15:39:19
- 小鼠髓細(xì)胞觸發(fā)受體2(TREM2)酶聯(lián)免疫吸附測(cè)定試劑盒 2025/8/1 15:39:13
- SPINK1 蛋白 2025/8/1 15:39:12
- PARKER閥21SBKO06MPX 2025/8/1 15:39:12
- Serpin A3 蛋白 2025/8/1 15:39:10
- S100A6 蛋白 2025/8/1 15:39:07
- EGF 蛋白 2025/8/1 15:39:05
- RBP1 蛋白 2025/8/1 15:38:59
- VEGF165 蛋白 2025/8/1 15:38:56
- 小鼠囊泡相關(guān)膜蛋白3(VAMP3)酶聯(lián)免疫吸附測(cè)定試劑盒 2025/8/1 15:38:55
- UBB 蛋白 2025/8/1 15:38:55
- GMP VEGF165 蛋白 2025/8/1 15:38:52
- FLT3LG 蛋白 2025/8/1 15:38:48
- SHP-1 蛋白 2025/8/1 15:38:41
- REG-3 gamma/REG3G 蛋白 2025/8/1 15:38:40
- Semaphorin-3C/SEMA3C 蛋白 2025/8/1 15:38:38
- UBE2M 蛋白 2025/8/1 15:38:36
- UBE2T 蛋白 2025/8/1 15:38:34
- UGRP1 蛋白 2025/8/1 15:38:32
- UPP1 蛋白 2025/8/1 15:38:30
- VCP 蛋白 2025/8/1 15:38:22
- CCL6 蛋白 2025/8/1 15:38:20
- AlkB 蛋白 2025/8/1 15:38:17
- Thioredoxin-1/TRXA 蛋白 2025/8/1 15:38:15