光學測量儀產(chǎn)品及廠家

作物株高測量儀
稻麥株高測量儀是托普云農新推出的一款可以測量農作物株高的自動測量儀器。該儀器采用拍照自動識別技術,可將稻麥,油菜等作物株高刻度數(shù)據(jù)實時傳輸?shù)绞謾C,通過電腦網(wǎng)頁或手機查看數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-06-06
便攜式玉米株高測量儀
便攜式玉米株高測量儀是一種便攜、快捷的玉米株高測量設備。該產(chǎn)品基于機器視覺技術,利用攝像頭獲取玉米株高測量尺圖像,通過算法現(xiàn)場分析,實時獲取玉米株高數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-06-06
CCD楊氏模量測量儀 楊氏模量測量儀
ccd測量顯微鏡為獨立部件,可用于其他微位移測 ccd測量顯微鏡為獨立部件,可用于其他微位移測
更新時間:2025-06-06
高精度光學轉速儀
光學測量情況下,您可使用dt319-74轉速測量儀記錄旋轉物體的轉速有多少。例如您可檢查電機,轉軸和風扇是否正常運行,是否因貨物超載造成任何的缺陷?對于轉速測量,將被測對象貼上反射貼,紅色光速對準反射貼。開始進行測量(反射貼與被測物之間的距離不大于600mm)。轉速表可進行單手操作。
更新時間:2025-06-06
光學膜層厚度測量控制儀
本儀器由于采用窄帶頻率技術,因而對信號諧波和直流漂移具有極的抑制能力。
更新時間:2025-06-06
大小常性測量儀
大小常性測量儀是用比配法原理測定大小常性儀器,也可用于制作心理量表。此儀器有兩件,每一件都有一個可調面積的等邊三角形固定在立柱上
更新時間:2025-06-06
影像測量儀 手動二次元影像儀 輪廓投影儀 光學影像測量儀
jc503-10系列手動影像測量儀,簡單易用,將工件攝入計算機處理并放大29到187倍,顯示于屏幕上
更新時間:2025-06-06
KD2-WSZ-1C型輕便精密光學平臺, 輕便精密光學平臺
kd2-wsz-1c型輕便精密光學平臺采用優(yōu)質鋁合金精加工而成,厚度:13mm,平面度:不大于0.02mm/m2 ,m6螺孔,孔距:50mm或25mm
更新時間:2025-06-06
KD2-WSZ-1D型精密光學平臺(無氣墊), 精密光學平臺
采用優(yōu)質高導磁不銹鋼機模板面;平面粗糙度不大于0.8um,平面度不大于0.05mm/m2m6安裝螺孔間距25×25或50×50mm;
更新時間:2025-06-06
幾何光學實驗儀
驗內容 透鏡成像公式、自準直法測透鏡焦距、共軛法( 貝塞爾法)測焦距。 透鏡的球差、色差、景深的觀察與測量。 組合顯微鏡、望遠鏡等。
更新時間:2025-06-06
光學機械轉速儀 機械轉速檢測儀 機械轉速測定儀
jc501- 470轉速儀套裝:包括儀器箱,適配器,測量頭,表面測速盤,反射標貼,電池和出廠報告。
更新時間:2025-06-06
閃爍測量儀 輻射劑量檢測儀 輻射劑量探測儀
高靈敏度的閃爍測量單元,由一個劑量率測量儀和一個閃爍探測器組成,用于測量x及γ射線。
更新時間:2025-06-06
光通量儀 光通量計 流明度測試儀
比較器功能佳測量:發(fā)光二極管、小燈泡、光纖照明
更新時間:2025-06-06
平行光管 光學量度儀
平行光管是通過它取得來自無限遠的光束,此光束謂之平行光。是裝校調整光學儀器的重要工具,也是光學量度儀器中的重要組成部分
更新時間:2025-06-06
北信牌 光學象限儀 平面傾斜角檢測儀 管、軸對于平面之間裝置角測量儀出租
用于測量平面或管、軸對于平面之間的傾斜角及裝置角的儀器,廣泛用于造船業(yè)、軍工、航空、制造業(yè)及大型機器的安裝。
更新時間:2025-06-06
CO2透過率測試儀 光學透過率測量儀
名稱:透過率測試儀 型號 qt452-vacv1測量范圍 0.1~100,000cm3/m 2·24h·0.1mpa測量對象 薄膜 溫度范圍 50(℃) 電源 220 尺寸 680mm(l)×565mm(b)×550mm(h)(mm) 重量 130(kg)
更新時間:2025-06-06
北信牌 光學經(jīng)緯儀 低等控制測量儀 地形測量經(jīng)緯儀 礦山測量經(jīng)緯儀出租
望遠鏡放大倍率 25.9x物鏡有效孔徑 φ36mm度盤小分劃值 1°分劃尺小分劃 1’光學對中器視距 0.8-1.5m
更新時間:2025-06-06
陶瓷插芯測孔儀,光纖陶瓷插芯測孔儀,陶瓷插芯同心度測量儀
測量陶瓷插芯的內孔孔徑,外圓直徑,圓度,內外圓同心度。陶瓷插芯的圓柱的直線度,平行度
更新時間:2025-06-06
拉絲模具檢查儀,拉絲模檢測儀,拉絲模缺陷檢查,拉絲模缺陷分析
觀察拉絲模具定徑區(qū)和壓縮區(qū),出口區(qū)的缺陷及光潔度。本產(chǎn)品改變了傳統(tǒng)用顯微鏡觀察的方式,把要觀察的部位以影像的方式呈現(xiàn)出來,解決視力疲勞問題,方便溝通和顯微鏡使用方法一樣,只是觀察方式的改變。專用模具支架,方便使用。適用于各種類型,各種孔徑的拉絲模具。
更新時間:2025-06-06
端子檢測顯微鏡,端子測量顯微鏡,端子分析顯微鏡
端子分析儀chd-200是針對線束行業(yè)品質檢驗而專門研發(fā)的一款精密檢測分析設備,整套系統(tǒng)由端子切割設備、研磨設備、腐蝕清洗、斷面圖像采集系統(tǒng)、線束端子圖片測量分析系統(tǒng)等單元組成,采用人體力學設計,模塊化組合,流水線式工作流程,讓操作更方便、快捷。全套檢測系統(tǒng)可在5分鐘內完成一個端子的處理分析,極大地提高了端子斷面品質檢驗的速度。簡易的操作、高品質的圖像采集系統(tǒng)、精確的測量分析為您的生產(chǎn)保駕護航
更新時間:2025-06-06
拉絲模具測量儀
拉絲模具測孔儀對拉絲?讖.孔型進行測量.拉絲模具測孔儀對異型孔也可以進行測量.拉絲模具測孔儀也可以對孔型及表面光潔度進行觀察.拉絲模具測孔儀操作簡單.易學.高效.高精度
更新時間:2025-06-06
德國Optosol 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀
德國optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀,用于測量管狀或平面太陽能吸收涂層的定向熱發(fā)射度,其基礎是測量來自擴展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時間:2025-06-06
德Optosol太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀
德optosol-k3 太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀,k3型發(fā)射率檢測儀由一個被加熱到70℃的發(fā)光體(作為熱輻射源)和三個對波長在8-14μm范圍的光線敏感的探測器組成。 來自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內。檢測器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測量的是由樣品反射回來的輻射。
更新時間:2025-06-06
德國Optosol 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀
optosol absorber control k1 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀,
更新時間:2025-06-06
美國OAI標準太陽能模擬器
trisol aaa美國oai標準太陽能模擬器,低成本,標準太陽模擬器提供高度準直,均勻的光,幾乎任何材料或產(chǎn)品暴露在陽光下長時間或短時間的基本測試。根據(jù)配置,這些太陽能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時間:2025-06-06
美國OAI太陽能模擬器
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國oai太陽能模擬器,這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽模擬器可以提供一個范圍的空氣質量過濾器復制太陽能模擬太陽的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術可以使一個廣泛的接觸區(qū)域。
更新時間:2025-06-06
美國 D&S 發(fā)射率測量儀
美國 d&s 發(fā)射率測量儀 ae1/rd1,是專門針對測量物體的輻射率設計的,ae1測量樣品最小直徑為2.25英寸(5.7cm)?蛇x附件ae-ad1和ae-ad3探測頭能使測量樣品最小直徑為1.0英(2.54cm),可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量,可以測量平行放置的多個樣品。
更新時間:2025-06-06
美國SONIX 晶圓檢測設備
美國sonix 晶圓檢測設備 autowafe pro.為全自動晶圓檢測設計的機型,主要應用在bond wafer,mems 內部空洞、離層檢測,tsv量測方面。
更新時間:2025-06-06
美國泰克TEK Keithley半導體參數(shù)分析儀
美國泰克tek keithley半導體參數(shù)分析儀4200a-scs ,加快半導體設備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內領先性能參數(shù)分析儀,提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測量。
更新時間:2025-06-06
瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ,非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來實現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎的設計, coreafm非常合理的實現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
更新時間:2025-06-06
韓國Ecopia霍爾效應測量系統(tǒng)
韓國ecopia霍爾效應測量系統(tǒng)hms3000,hms5000,用于研究半導體材料/光電材料的電學特性,可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。
更新時間:2025-06-06
美國 MMR 霍爾效應測量系統(tǒng)
美國 mmr 霍爾效應測量系統(tǒng) h5000,用于研究光電材料的電學特性,利用范德堡測量技術測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。
更新時間:2025-06-06
半導體測試探針臺
半導體測試探針臺kup007,emp100c,emp100b,emp50s
更新時間:2025-06-06
德國Mecwins 掃描式激光分析儀
德國mecwins 掃描式激光分析儀scala,它是用激光入射掃描樣品表面,收集反射信號得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時間:2025-06-06
美國NANOVEA三維表面形貌儀
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型,是一款高速的三維形貌儀,最高掃描速度可達1m/s,采用國際領先的白光共聚焦技術,可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復性好的優(yōu)點,該儀器可用于測量大尺寸樣品或質檢現(xiàn)場使用。
更新時間:2025-06-06
德國YXLON 高分辨率X射線檢測設備
德國 yxlon 高分辨率x射線檢測設備 y.cougar smt 平板探測器(標配) y.cheetah 高速平板探測器(標配)
更新時間:2025-06-06
美國Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
美國royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統(tǒng)
更新時間:2025-06-06
美國Royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)
美國royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面,側面檢測,可選配芯片轉向功能.
更新時間:2025-06-06
美國RTI自動特性圖示儀
美國rti自動特性圖示儀 mt century curve tracer,是一個性價比較高的曲線追蹤設備。最多到96個channel,提供4種型號可供客戶選擇,mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性,功率和軟件。像其他rti機型一樣,mt century系統(tǒng)的設計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時間:2025-06-06
德國Klocke Nanotech  3D納米級三維測量儀
德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger,是一種實用的納米精度坐標和形貌綜合測量設備。由臺架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸,表面輪廓、粗糙度等,并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合,進行在線檢測、質量控制等。
更新時間:2025-06-06
日本A&D粒子計數(shù)器(粒度計)
日本a&d粒子計數(shù)器(粒度計)sv-1a,是使用點監(jiān)測的低成本替代設備,計數(shù)值高達2,000,000個粒子/ft.
更新時間:2025-06-06
美國Filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)
美國filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)f20,f30,f40,f50,f60,f3-xxt 系列,臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
更新時間:2025-06-06
美國 SONIX 超聲波掃描顯微鏡
美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求,更復雜元器件設計的新一代設備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產(chǎn)量,無需人員重復設置.
更新時間:2025-06-06
德國Bruker傅氏轉換紅外光譜儀
德國bruker傅氏轉換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉換進而分析雜質濃度的光譜分析儀器。
更新時間:2025-06-06
德國Bruker FT-NIR光譜儀
德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經(jīng)在包括制藥,食品,農業(yè)和化學行業(yè)在內的所有行業(yè)的質量控制應用中得到了很好的應用。它為耗時的濕法化學方法和色譜技術提供了一種實用的替代方法。ft-nir無破壞性,不需要樣品制備或危險化學品,使其定量和定性分析快速可靠。
更新時間:2025-06-06
德Bruker光學輪廓儀
德bruker光學輪廓儀contorugt-表面量測系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學輪廓儀
更新時間:2025-06-06
德國Sentech 實時監(jiān)測儀
sentech ald實時監(jiān)測儀是一種新型的光學診斷工具,是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率,厚度,折射率),在短時間內開發(fā)新工藝、實時研究ald循環(huán)中的反應機理是sentech ald實時監(jiān)測儀的主要應用。
更新時間:2025-06-06
美國OGP光學式坐標測量儀
美國ogp光學式坐標測量儀 zip 250 ,5:1 accucentric 電動變焦透鏡,在每次放大變倍時自動校準,可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時間:2025-06-06
接觸角測定儀
jy—pha接觸角測定儀,用于液體對固體的浸潤性,通過測量液體對固體的接觸角、計算、測定液體對固體的附著力,張力及固體表面能等指標。
更新時間:2025-06-06
接觸角測量儀
100標準型接觸角測量儀,采用高性能日本原裝進口工業(yè)機芯,工業(yè)級連續(xù)變倍顯微鏡,確保圖像的真實性,獲取最佳的成像效果。
更新時間:2025-06-06

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質 生物試劑