hcrd-300型電氣薄膜用電弱點(diǎn)測(cè)試儀采用計(jì)算機(jī)控制,通過(guò)人機(jī)對(duì)話(huà)方式。主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試。電氣薄膜用電弱點(diǎn)測(cè)試儀系列產(chǎn)品的主要特點(diǎn)是能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試,測(cè)試寬度可根據(jù)用戶(hù)的要求而設(shè)定,無(wú)須將膜分切成小卷,免除了許多外來(lái)因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。
更新時(shí)間:2025-08-01