其他產(chǎn)品及廠家
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-08-07
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-08-07
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值，不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應 data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。
更新時間:2025-08-07
數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
更新時間:2025-08-07
復位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當 emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2025-08-07
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時間:2025-08-07
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設(shè)備進入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時，pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時間:2025-08-07
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-08-07
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-08-07
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-08-07
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-08-07
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-08-07
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當?shù)臅r代，工程界已經(jīng)積累了很多實踐經(jīng)驗，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設(shè)計的經(jīng)驗，但是經(jīng)驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計需求。
更新時間:2025-08-07
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設(shè)計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進行設(shè)計時，工程師會按照主芯片給的設(shè)計規(guī)范進行設(shè)計。結(jié)合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時間:2025-08-07
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時間:2025-08-07
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計完成之后進行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善， 只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-08-07
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-08-07
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備，這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-08-07
低頻脈沖注入型號為 f-120-1, f-120-4, f-120-4a, f-120-6 和 f-120-6a 的注入探頭可用于脈沖注入源及敏感度監(jiān)測探頭，這些探頭能感應耦合上升時間為 5ns 及半個脈沖寬度為 100μs 的瞬態(tài)信號，當用于監(jiān)測探頭時可用頻率范圍：10 khz to 200 mhz，轉(zhuǎn)移阻抗+20 db k2 從 200 khz 到150 mhz。
更新時間:2025-08-06
特別高效的電流鉗（耦合系數(shù)小于7db），產(chǎn)生10v電平僅需20瓦功放，比傳統(tǒng)電流鉗可節(jié)省4-16倍的放大器功率，內(nèi)徑40mm，完全符合iec61000-4-6（gb/t 17626.6）的要求。
更新時間:2025-08-06
pem 低頻羅氏線圈-lfr系列是理想的電低頻流測試產(chǎn)品。且具有尺寸小巧、低相位誤差，超寬的頻帶范圍，使其可以測量被測信號的400次諧波（@45/65hz）。 低頻羅氏線圈--lfr對電流幅度的響應曲線，有著高的線性度。配備有10:1的電流開關(guān)檔，使其有著更寬的動態(tài)測試范圍.
更新時間:2025-08-06
dcflex系列電流探頭在功率電子測量中經(jīng)濟實用，使用簡單，性價比非常高。直流柔性探頭結(jié)構(gòu)：纖細、柔軟的感應套環(huán)，讓您輕而易舉地與實際測量對象相連接。
更新時間:2025-08-06
日本強力kanetec高斯計tm-801exp產(chǎn)品說明:tm-701的容易使用性能沒有改變，但是實現(xiàn)了性能的大幅度提高！輕便型的新行業(yè)標準測量器
更新時間:2025-08-06
彈簧沖擊器/ik碰撞能量試驗裝置 基本簡介：1、根據(jù)iec60068-2-75、gb/t2423.55-2006、gb4706.1、gb8898和gb7000、 iec884及ul1244等相應條款制作而成，主要用于檢驗家用和類似電器產(chǎn)品的外殼、操作桿、手柄、旋鈕、指示燈等外殼承受機械沖擊的能。2、本沖擊器外殼采用鋁制作。
更新時間:2025-08-06
插座保護門試驗探針/1n試驗探針基本簡介：1、根據(jù)gb2099.1-2008,gb8898-97及相關(guān) iec等相應條款制作而成。2、試驗探針是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2025-08-06
標準試驗指甲測試指甲 基本簡介：1、根據(jù)gb4706.1-2005、iec60335-1及 ul等標準制作而成。2、試驗指甲主要針對電擊或接觸運動部件的不可拆卸零件能否經(jīng)受得住正常使用中出現(xiàn)的機械應力，達到規(guī)定防護等進行測試的設(shè)備。$r
更新時間:2025-08-06
標試驗指針銷gb4706.1試驗指基本簡介：1、根據(jù)gb4706.1、gb2099.1及相關(guān) iec、 ul等相應條款制作而成。2、標準試驗指針銷是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2025-08-06
ul試驗彎指ul鉸接試驗指pa100a探棒基本簡介：1、根據(jù)ul1278、ul1026及ul507等相應條款制作而成。2、ul試驗彎指是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2025-08-06
ipx34花灑式淋雨試驗裝置ipx34手持式防淋水濺水試驗裝置 試驗標準：符合 iec60529:2001《degrees of protection provided by enclosures(ip code)》、gb4208-2008《外殼防護等(ip 代碼)》14.2.3、14.2.4 條款與圖 5
更新時間:2025-08-06
iec61032試驗探棒gb4706.1全套試驗指基本簡介：1、根據(jù)iec61032、gb4706.1、gb2099.1、 iec60695、ul等相應條款制作而成。2、試驗探棒是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2025-08-06
深圳兒童試驗彎指/19號試驗探棒基本簡介：1、根據(jù)gb4706.1、iec61032-1997及 ul等相應條款制作而成。2、19號兒童試驗彎指（19號試驗探棒）是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2025-08-06
燈頭溫升試驗鎳圈滿足gb/t24392-2009 和 iec60360：2002相關(guān)燈頭溫升測試標準要求制作而成。成分：ni純度99.6%以上的日本進口純鎳；結(jié)構(gòu)和特性： 材料的晶粒應精細且有規(guī)則結(jié)構(gòu)，晶粒度：zui小值為astm8(zui大不超過0.019
更新時間:2025-08-06
ipx56防噴水試驗噴頭/ipx6強噴水試驗裝置ipx5防噴水試驗噴嘴一、 產(chǎn)品概述：防噴水試驗裝置是依據(jù)gb4208的ipx5及ipx6、iec60529等標準的相關(guān)條款要求制作，用于對具有防噴水功能的器具或電器的防水性能進行測試
更新時間:2025-08-06
12.5mm試驗探棒|ip20c試驗探棒基本簡介：1、根據(jù)din40050等相應條款制作而成。2、12.5mm試驗探棒是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2025-08-06
配電柜3c檢測用ip4x試具/ip40試驗探針基本簡介： 1、根據(jù)gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應條款制作而成。2、d類試驗探棒（d類試驗針）是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2025-08-06
ip10試驗探棒/ip1x試驗探球基本簡介：1、根據(jù)gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應條款制作而成。2、a類試驗探棒（a類試驗探球）是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2025-08-06
具有全自動失真度測量功能，信號頻率自動測量，顯示， 內(nèi)部自動校準，自動跟蹤濾波。 可測量的小失真度達0.005%。 具有自動測量信/雜比（sinad)和信/噪比（s/n)的功能。 具有測量平衡信號或不平衡信號的功能。 設(shè)有示波器輸出監(jiān)視插孔，方便使用者觀察被測信號的波形。 可選rs-232接口
更新時間:2025-08-05
性能提升的中檔電感測量儀 簡便操作與強大功能的合理結(jié)合 讀數(shù)穩(wěn)定性好 高達16次/的測量速度 鍵盤鎖定功能 30ω、100ω兩種輸出阻抗 提供rs-232c接口 分選及handler接口可選樣
更新時間:2025-08-05
性能提升的中檔電容測量儀 良好的測試穩(wěn)定性 抗沖擊能力強 合理的功能配置 固定的輸出阻抗，特別適合陶瓷電容器的測量 鍵盤鎖定功能 30ω、100ω兩種輸出阻抗 rs232、handler接口
更新時間:2025-08-05
簡便操作與強大功能的合理結(jié)合 采用smt表面貼裝工藝提升了儀器的可靠性 大型用白色背光lcd顯示屏 100hz～100khz,8個典型測試頻率 0.1v、0.3v、1.0v三個典型測試電平 30ω/100ω兩種可選源阻抗,便于兼容不同lcr表的測試一致性 配置rs232接口和handler接口
更新時間:2025-08-05
產(chǎn)品介紹本系列程控耐壓測試儀均采用高速mcu和大規(guī)模數(shù)字電路設(shè)計的高性能的安規(guī)測試儀，其輸出電壓的大小 、輸出電壓的上升 、下降、輸出電壓的頻率完全由mcu控 制，能實時顯示擊穿電流值和電壓值，并具有軟體校準功能，配備plc接口、rs232c、rs485、usb device、usb host接口、可方便與計算機或plc組成綜合測試系統(tǒng)。
更新時間:2025-08-05
rk9830n智能電量測量儀（數(shù)字功率計），可以同時測量單、三相用電設(shè)備的電壓、電流、功率、功率因數(shù)、頻率、電能等參數(shù)，測量內(nèi)容豐富，具有量程范圍寬，預置報警、鎖存和通訊等功能。
更新時間:2025-08-05
rk-8多路溫度巡檢儀是一種適用于多點溫度同時實時監(jiān)控跟蹤的儀表，配備軟件可將整個溫升變化過程全部以曲線方式記錄下來，便于保存分析，交流。具備測量方便、精度高、熱電偶測試點可重復利用的優(yōu)點。
更新時間:2025-08-05
rk2830是全新一代通用高性能lcr表。外形美觀，操作簡便。該產(chǎn)品采用32位arm處理器，測試快速穩(wěn)定，同時配有100hz-10khz和50mv-2.0v信號電平，可滿足元件與材料的所有測量要求，為產(chǎn)線質(zhì)量保證、進貨檢驗及實驗室的高精度測量提供了保障。應用域本儀器可廣泛應用于工廠，院校，研究所，計量質(zhì)檢部門等對各類元器件的參數(shù)進行較為精確的測量。
更新時間:2025-08-05
yd2776a240×128大屏lcd顯示全中文操作界面，簡單易懂30hz～200khz共39個測試頻點30ω/100ω可選信號源輸入阻抗12檔分選計數(shù)，訊響條件選擇直讀、檔號、鍵盤鎖定功能plc\rs232接口選擇
更新時間:2025-08-05
yd2616dlcd液晶顯示主副參數(shù)四個典型測試頻點三檔電平選擇30ω 100ω兩種輸入阻抗五檔分選讀數(shù)穩(wěn)定性好，性能穩(wěn)定
更新時間:2025-08-05
yd2817d-1全新模具，外觀更美觀可選擇六個典型頻率，高100khz三檔測試電平，主副參數(shù)顯示操作簡便，性能可靠四檔分選plc標配
更新時間:2025-08-05
陰極保護監(jiān)測儀sd-21用于測量陰極電位溢出，從而預防埋地燃氣管道的腐蝕。輸入阻抗為100 mω，在某些地形（比如花崗巖）上輸入阻抗可以被精確無誤的測量出來。是世界上首款同時設(shè)備電壓、電流、接地電阻、頻率的設(shè)備。
更新時間:2025-08-04
最新產(chǎn)品
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