日立sft9455x射線熒光鍍層測厚儀概述： sft9000系列里很好的機型“sft9455”，搭載75w高速x射線管和雙重檢驗裝置(半導體檢驗裝置十比 例計數(shù)管)。適用“薄膜”、“金屬膜”、“極微小部分測定”等所有鍍膜膜厚測定要求的高性能膜 厚測量儀器。而且 “sft9455”在鍍膜厚度測量功能的基礎(chǔ)上還可以用作異物定性分析和材料成分分析。