低壓漏電起痕試驗(yàn)儀是根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬仿真試驗(yàn)項(xiàng)目。耐漏電起痕試驗(yàn)(電痕化指數(shù)試驗(yàn))是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸的鉑電極之間,施加某一電壓并定時(shí) (30s) 定高度 ( 35mm ) 滴下規(guī)定液滴體積的 導(dǎo)電液體 ,用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能,測(cè)定其相比電痕化指數(shù) (ct1) 和耐電痕化指數(shù)(pt1) 。
更新時(shí)間:2025-06-08