涂層測厚儀產(chǎn)品及廠家
mc-2000a涂層測厚儀專為金屬表面處理者設(shè)計，mc-2000a是一款靈便、易用的儀器，配置的單探頭可測鐵質(zhì)底材上幾乎所有覆層。
更新時間:2025-12-11
mc-2000c涂層測厚儀專為金屬表面處理者設(shè)計，mc-2000c是一款靈便、易用的儀器，配置的單探頭可測鐵質(zhì)底材上幾乎所有覆層。
更新時間:2025-12-11
mc-2000d涂層測厚儀專為金屬表面處理者設(shè)計，mc-2000d涂層測厚儀是一款靈便、易用的儀器，配置的單探頭可測鐵質(zhì)底材上幾乎所有覆層。
更新時間:2025-12-11
天瑞膜厚測試儀是一種用于無損檢測鍍金、鍍銀、鍍錫、鍍鎳、鍍鉻和鍍鋅等合金層厚度的設(shè)備。天瑞膜厚度測試儀準確性精密度是指結(jié)果的一致性（可重復(fù)性）。在x熒光分析中，精密度的表現(xiàn)尤其重要。
更新時間:2025-12-10
thick800a測厚儀的主要功能是測量金屬如金、銀、鎳、錫、鋅、鉻和銅等的鍍層厚度。厚度為800a的鍍金層測厚儀是天瑞公司多年積累經(jīng)驗的成果，專為電鍍行業(yè)設(shè)計的一款測厚工具。該儀器主要用于測量多種金屬電鍍層的厚度，包括鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍銅、鍍銠、鍍鈀和鍍鋅等。儀器支持自動軟件操作，能夠進行多點測試，測試點和移動平臺均由軟件進行控制。它是一款功能強大的設(shè)備，能夠與專門開發(fā)的軟件完美結(jié)合。
更新時間:2025-12-10
設(shè)計特點天瑞edxrf金屬鍍層厚度測厚儀是天瑞儀器股份有限公司集30多年x熒光膜厚測量技術(shù)所研發(fā)的一款鍍層膜厚儀。
更新時間:2025-12-10
設(shè)計特點天瑞edxrf金屬鍍層厚度測厚儀是天瑞儀器股份有限公司集30多年x熒光膜厚測量技術(shù)所研發(fā)的一款鍍層膜厚儀。
更新時間:2025-12-10
天瑞x射線熒光膜厚儀對樣品可做半定量或準定量分析譜線峰背比高,分析靈敏度高不破壞試樣,無損分析試樣形態(tài)多樣化(固體、液體、粉末等)設(shè)備可靠、維修、維護簡單便捷、低廉的售后服務(wù)保證
更新時間:2025-12-10
天瑞x射線熒光膜厚儀對樣品可做半定量或準定量分析譜線峰背比高,分析靈敏度高不破壞試樣,無損分析試樣形態(tài)多樣化(固體、液體、粉末等)設(shè)備可靠、維修、維護簡單便捷、低廉的售后服務(wù)保證
更新時間:2025-12-10
天瑞膜厚測量儀滿足不同需求：測試軟件為windows操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并就有多種優(yōu)質(zhì)的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
更新時間:2025-12-10
天瑞膜厚測量儀滿足不同需求：測試軟件為windows操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并就有多種優(yōu)質(zhì)的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
更新時間:2025-12-10
江蘇天瑞膜厚儀應(yīng)用優(yōu)勢：針對不規(guī)則樣品進行高度激光定位測試點分析；軟件可分析達到5層25種元素鍍層；通過軟件操作樣品移動平臺，實現(xiàn)不同測試點的測試需求；
更新時間:2025-12-10
磁性測厚儀能測鍍金料元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個可xuanze的分析和識別模型。
更新時間:2025-12-10
儀器尺寸：690（w）x 575（d）x 660（h）mm樣品室尺寸：520（w）x 395（d）x150（h）mm樣品臺尺寸：393(w)x 258 (d）mmx/y/z平臺移動速度：額定速度200mm/s 高速度333.3mm/sx/y/z平臺重復(fù)定位 ：小于0.1um深圳x射線測厚儀操作環(huán)境濕度：≤90%操作環(huán)境溫度 15℃～30℃
更新時間:2025-12-10
x射線涂層測厚儀高壓電源● 輸出電壓：0~50kv● 燈絲電流：0~2ma● 功率：50w● 紋波系數(shù)：0.1%（p-p 8小時穩(wěn)定性：0.05%
更新時間:2025-12-10
x射線涂層測厚儀高壓電源● 輸出電壓：0~50kv● 燈絲電流：0~2ma● 功率：50w● 紋波系數(shù)：0.1%（p-p 8小時穩(wěn)定性：0.05%
更新時間:2025-12-10
通過軟件操作樣品移動平臺，實現(xiàn)不同測試點的測試需求；x射線測厚儀 鍍鋅配置高分辨率si-pin半導(dǎo)體探測器，實現(xiàn)對多鍍層樣品的分析；內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶觀測樣品狀態(tài)；高度激光敏感性傳感器保護測試窗口不被樣品撞擊。
更新時間:2025-12-10
供應(yīng)x射線測厚儀廠家滿足不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求移動平臺可測試點
更新時間:2025-12-10
x射線熒光納米測厚儀應(yīng)用領(lǐng)域?qū)I(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進行檢測？蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。
更新時間:2025-12-10
鍍層膜厚分析儀注意事項開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-12-10
鍍層膜厚分析儀注意事項開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-12-10
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2025-12-10
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2025-12-10
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2025-12-10
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2025-12-10
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2025-12-10
合金成分鍍層膜厚分析儀器注意事項開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-12-10
鉛玻璃屏蔽罩。合金鍍層膜厚儀高低壓電源。x光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機
更新時間:2025-12-10
鉛玻璃屏蔽罩。合金鍍層膜厚儀高低壓電源。x光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機
更新時間:2025-12-10
合金成分鍍層厚度膜厚儀 注意事項開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-12-10
合金成分鍍層厚度膜厚儀 注意事項開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-12-10
電鍍液鍍層含量測定鍍層測厚儀 型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
更新時間:2025-12-10
鍍層膜厚儀 型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
更新時間:2025-12-10
xrf電鍍層膜厚儀 開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2025-12-10
xrf電鍍層膜厚儀 開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2025-12-10
鍍層厚度測試分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2025-12-10
天瑞儀器thick800a 注意事項開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞
更新時間:2025-12-10
x射線鍍層測厚檢測儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。x光管。
更新時間:2025-12-10
國產(chǎn)鍍層膜厚儀注意事項開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-12-10
國產(chǎn)鍍層膜厚儀注意事項開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-12-10
國產(chǎn)x鍍層測厚儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。
更新時間:2025-12-10
天瑞儀器光譜儀thick800a 同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。
更新時間:2025-12-10
x鍍層測厚儀注意事項開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-12-10
電鍍滾鍍廠測厚儀：thick800a測定步驟：步：新建snpb-cu鍍層厚度標準曲線第二步：確定測試時間：40s第三步：測試其重復(fù)性得出相對標準偏差
更新時間:2025-12-10
x射線鍍層測厚檢測儀針對不規(guī)則樣品進行高度激光定位測試點分析；軟件可分析5層25種元素鍍層；通過軟件操作樣品移動平臺，實現(xiàn)不同測試點的測試需求；配置高分辨率si-pin半導(dǎo)體探測器，實現(xiàn)對多鍍層樣品的分析；
更新時間:2025-12-10
最新產(chǎn)品
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