GB/T 6672臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀 包裝薄膜厚度測(cè)定儀LabthinkPARAM博每 CHY-C2A測(cè)厚儀產(chǎn)地:濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司品牌:Labthink蘭光咨詢熱線:0531-85068566、15764121171
薄膜厚度測(cè)量范圍: 3nm~450um,精度為0.1nm。 光源及探測(cè)器的波長(zhǎng)從紫外220nm至近紅外1700nm。
ST2000薄膜厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)1) 因?yàn)槭抢霉獾姆绞剑允欠墙佑|式,非破壞式,不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。
2) 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3) 測(cè)量迅速正確,且不必為測(cè)量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。
4) 可測(cè)量3層以內(nèi)的多層膜。
5) 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。
6) 產(chǎn)品款式多樣,而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品
7)可測(cè)量 PDP 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)
8)超大型Stage (PDP專用)
ST2000薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品規(guī)格/型號(hào)
Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
Measurement Range | 100?~ 50μ m(Depends on Film Type) |
Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
ST2000薄膜厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)1) 因?yàn)槭抢霉獾姆绞,所以是非接觸式,非破壞式,不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。
2) 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3) 測(cè)量迅速正確,且不必為測(cè)量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。
4) 可測(cè)量3層以內(nèi)的多層膜。
5) 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。
6) 產(chǎn)品款式多樣,而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品
7)可測(cè)量 PDP 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)
8)超大型Stage (PDP專用)
ST2000薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品規(guī)格/型號(hào)
Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
Measurement Range | 100?~ 50μ m(Depends on Film Type) |
Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x在傳統(tǒng)薄膜測(cè)厚儀的基礎(chǔ)上添加了加熱/制冷的溫度控制單元,使用白光反射光譜技術(shù)(WLRS),實(shí)時(shí)測(cè)量薄膜厚度和折射率,并通過(guò)專業(yè)軟件記錄下這些數(shù)據(jù)。這款薄膜測(cè)厚儀,光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,薄膜厚度測(cè)量?jī)x用于測(cè)量聚合物薄膜和光致抗蝕劑薄膜在加熱或制冷情況下薄 膜厚度和光學(xué)常量(n, k)的變化。為了這種特色的測(cè)量,我們特意研發(fā)了專業(yè)的軟件和算法,使得該聚合物薄膜測(cè)厚儀能夠給出薄膜的物理化學(xué)指標(biāo):例如玻璃化轉(zhuǎn)變溫度 glass transition temperature (Tg), ,熱分解溫度thermal degradation temperature (Td) ,薄膜的厚度測(cè)量范圍也高達(dá)10nm--100微米。
詳情瀏覽: http://www.f-lab.cn/surface-residue/coating-mapping.html這 套薄膜測(cè)厚儀,光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,薄膜厚度測(cè)量?jī)x能夠快速實(shí)時(shí)給出薄膜厚度和薄膜光學(xué)常量等物理化學(xué)性能數(shù)據(jù),并且能夠控制薄膜加熱和 制冷的速度,是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。所使用的軟件也適合薄膜的其他熱性能研究,例如:薄膜的熱消融/熱剝蝕thermal ablation研究,薄膜光學(xué)性質(zhì)隨溫度的變化,薄膜預(yù)烘烤Post Apply Bake,光刻過(guò)程后烘烤 Post Exposure Bake對(duì)薄膜厚度的損失等諸多研究。對(duì)于薄膜測(cè)厚儀,光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,薄膜厚度測(cè)量?jī)x要求薄膜襯底是透明的,背面是不反射的。它能夠處理最高4層薄膜的膜堆layer stacks,給出兩個(gè)參數(shù):例如兩個(gè)薄膜的厚度或一個(gè)薄膜的厚度和光學(xué)常量。這套薄膜測(cè)厚儀,光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,薄膜厚度測(cè)量?jī)x已經(jīng)成功應(yīng)用于測(cè)量不同聚合物薄膜的熱性能,光刻薄膜的熱處理影響分析,Si晶圓wafer上的光致抗蝕劑薄膜分析等。標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)可測(cè)膜厚: 5nm-150微米;波長(zhǎng)范圍:200-1100nm精度:0.5%分辨率:0.02nm測(cè)量點(diǎn)光斑大。0.5mm可測(cè)樣品大。10-100mm計(jì)算機(jī)要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:360x400x180mm重量:13.5kg電力要求:110/230VAC薄膜測(cè)厚儀,光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,薄膜厚度測(cè)量?jī)x應(yīng)用聚合物薄膜測(cè)量光致抗蝕劑薄膜測(cè)量化學(xué)和生物薄膜測(cè)量,傳感測(cè)量光電子薄膜結(jié)構(gòu)測(cè)量半導(dǎo)體制造在線測(cè)量光學(xué)鍍膜測(cè)量中國(guó)最大的進(jìn)口精密光學(xué)器件和科學(xué)儀器供應(yīng)商。
Email: info@felles.cn 或 felleschina@outlook.comWeb: www.felles.cn (激光光學(xué)精密儀器網(wǎng)) www.felles.cc (綜合性尖端測(cè)試儀器網(wǎng)) www.f-lab.cn (綜合性實(shí)驗(yàn)室儀器網(wǎng))商品描述:
一、設(shè)備名稱:塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x(千分或百分測(cè)量) 型號(hào):CHY-10
二、設(shè)備用途: 本儀器是采用高精度數(shù)顯千分表測(cè)量塑料薄膜及薄片的專用儀器。具有測(cè)量精度高、數(shù)據(jù)穩(wěn)定等特點(diǎn),同時(shí)還可進(jìn)行英吋和毫米之間變換。
三、主要技術(shù)指標(biāo): 1測(cè)量精度 : 0.001mm/0.0005″ 2測(cè)量范圍 : 0―10mm/0.2″
四、安裝方法: 1將底座從包裝中拿出,放于平穩(wěn)平面上. 2調(diào)整調(diào)整螺釘,使其處于水平位置. 3將千分表取出安裝在千分表支架上,并調(diào)整好上下測(cè)量塊,使其間隙為零. 4將千分表支架安裝在底座上的固定槽內(nèi),并用鎖緊手柄鎖緊.
五、使用方法: 用鋼絲軸將千分表測(cè)量頭抬起幾次后,將千分表值清零(按千分表上的”0”鈕).然后將測(cè)量頭抬起,把被測(cè)試樣放在下測(cè)量面上,將測(cè)量頭放下,這時(shí)千分表上的值即為被測(cè)試樣厚度值.(如果沒有試樣時(shí),表上仍有讀數(shù),則看測(cè)量面上是否有臟東西,如有則用柔軟干凈的布將其擦掉,如果沒有則直接按千分表”0”鈕清零即可。