掃描電子顯微鏡(SEM)產(chǎn)品及廠家

日本JEOL低溫冷凍離子切片儀
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis,冷卻保持時間長,有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品,也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2025-08-01
日本JEOL 離子切片儀
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ,用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度(0°到6°)的氬離子束通過遮光帶照射樣品,大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好,對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-08-01
日本JEOL截面樣品拋光儀
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp,采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-08-01
日本JEOL截面樣品制備裝置
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp,采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-08-01
日本JEOL 截面樣品拋光儀
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp,在加工過程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計。在裝有液氮的情況下,也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫,并且可以拆卸。配有傳送機構(gòu),在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-08-01
日本JEOL 軟X射線分析譜儀
日本jeol 軟x射線分析譜儀,通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度x射線ccd相機,實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測,并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準)的高能量分辨率進行分析,超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-08-01
日本JEOL 電子探針顯微分析儀
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100,可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器,組合使用wds和eds,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2025-08-01
日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000,配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后,就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨,沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品,為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較,sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異,這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時間:2025-08-01
日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f,該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng),在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合,可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-08-01
日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s,采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(fp法・檢量線法)、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2025-08-01
德Neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡
德neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom,該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計優(yōu)勢,采用專利保護的雙光路設(shè)計,完全可以實現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時,由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源(thz-tds),也可以實現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-08-01
太赫茲近場光學(xué)顯微鏡
thz-neasnom太赫茲近場光學(xué)顯微鏡 -30nm光學(xué)信號空間分辨率
更新時間:2025-08-01
ZEISS 高分辨電子掃描顯微鏡
zeiss 高分辨電子掃描顯微鏡-evo 10,具備自動化工作流程的高清晰掃描電鏡
更新時間:2025-08-01
德國KSI  型 全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng),在ksi i-wafer的探測下,晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
更新時間:2025-08-01
KSI 型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng)
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測,有了它,晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測,晶錠的尺寸可達450mm,檢測時間短,也不需要做其它設(shè)定。
更新時間:2025-08-01
KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi-nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時間:2025-08-01
德國KSI  雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),同時使用2只換能器
更新時間:2025-08-01
SEM掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡
sem掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中,掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-08-01
SEM掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡#2023已更新
sem掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中,掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-08-01
日本電子JEOL場發(fā)射掃描電鏡
jsm-it800shl 是日本電子株式會社(jeol) 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡,它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流,高穩(wěn)定性的傳統(tǒng),同時將分辨率提高到新的限,全新設(shè)計的超混合型物鏡,高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成,而且標配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2025-08-01
日本電子掃描電子顯微鏡
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強大的"zeromag"功能,讓您從光學(xué)顯微鏡的觀察方式,輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實現(xiàn)了sem影像觀察時實時的eds成份分析。
更新時間:2025-08-01
日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡適用于納米材料、化學(xué)、新材料、半導(dǎo)體器件的觀察和分析。
更新時間:2025-08-01
臂板蛋白4C(Sema4C)抗體
本公司為您提供:臂板蛋白4c(sema4c)抗體,公司主營菌種,細胞,抗體,試劑,耗材,實驗室常用設(shè)備等,更多信息請咨詢在線客服:13817240771
更新時間:2025-07-31
臂板蛋白3F(Sema3F)抗體
本公司為您提供:臂板蛋白3f(sema3f)抗體,公司主營菌種,細胞,抗體,試劑,耗材,實驗室常用設(shè)備等,更多信息請咨詢在線客服:13817240771
更新時間:2025-07-31
臂板蛋白3C(Sema3C)抗體
本公司為您提供:臂板蛋白3c(sema3c)抗體,公司主營菌種,細胞,抗體,試劑,耗材,實驗室常用設(shè)備等,更多信息請咨詢在線客服:13817240771
更新時間:2025-07-31
臂板蛋白3A(Sema3A)抗體
本公司為您提供:臂板蛋白3a(sema3a)抗體,公司主營菌種,細胞,抗體,試劑,耗材,實驗室常用設(shè)備等,更多信息請咨詢在線客服:13817240771
更新時間:2025-07-31
SEMA域4(SEMA4D)抗體
本公司為您提供:sema域4(sema4d)抗體,公司主營菌種,細胞,抗體,試劑,耗材,實驗室常用設(shè)備等,更多信息請咨詢在線客服:13817240771
更新時間:2025-07-31
Anti-Sema6A,Sema6A抗體
anti-sema6a,sema6a抗體,F(xiàn)貨供應(yīng),歡迎來電咨詢:15821073937 或咨詢公司在線q:1832659204,歡迎您的惠顧。
更新時間:2025-07-31
Anti-Sema7A/CD108,軸突生長因子CD108抗體
anti-sema7a/cd108,軸突生長因子cd108抗體,F(xiàn)貨供應(yīng),歡迎來電咨詢:15821073937 或咨詢公司在線q:1832659204,歡迎您的惠顧。
更新時間:2025-07-31
Anti-Sema3A,臂板蛋白3A抗體
anti-sema3a,臂板蛋白3a抗體,F(xiàn)貨供應(yīng),歡迎來電咨詢:15821073937 或咨詢公司在線q:1832659204,歡迎您的惠顧。
更新時間:2025-07-31
Anti-Sema4C,臂板蛋白4C抗體
anti-sema4c,臂板蛋白4c抗體,F(xiàn)貨供應(yīng),歡迎來電咨詢:15821073937 或咨詢公司在線q:1832659204,歡迎您的惠顧。
更新時間:2025-07-31
Anti-Sema3F,臂板蛋白3F抗體
anti-sema3f,臂板蛋白3f抗體,F(xiàn)貨供應(yīng),歡迎來電咨詢:15821073937 或咨詢公司在線q:1832659204,歡迎您的惠顧。
更新時間:2025-07-31
和伍水浸超聲掃描顯微鏡半導(dǎo)體缺陷檢測儀
超聲掃描顯微鏡(sat)是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設(shè)備,主要利用高頻超聲波,對各類半導(dǎo)體器件、材料進行檢測,能夠檢測出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷,并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中,不會對樣品造成損傷,不會影響樣品性能,可有效滿足新能源、半導(dǎo)體、電力電子、熱管理材料、金剛石復(fù)合材料、碳纖維復(fù)合材料等行業(yè)需求。
更新時間:2025-07-31
Magellan400/460  FEI MagellanTM系列掃描電子顯微鏡
fei magellantm系列掃描電子顯微鏡界: 高靈敏的表面圖像、以及俯視或從其它角度觀看圖像,分辨率可達到一納米以下。 這款電鏡上的一些重要突破在于它鏡筒上采用了革命性的單色槍技術(shù),它使顯微學(xué)家
更新時間:2025-07-31
Quanta 系列  FEI Quanta系列 掃描電子顯微鏡
fei quanta系列 掃描電子顯微鏡包括6個變量的壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡(esem™)和兩個dualbeam™系統(tǒng),所有這些都可以容納多個樣品和工業(yè)過程控制實驗室,材料科
更新時間:2025-07-31
Nova Nano SEM  FEI Nova Nano SEM 場發(fā)射掃描電子顯微鏡
fei nova nano sem 場發(fā)射掃描電子顯微鏡該產(chǎn)品是世界上*款可以對有機材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進行超高分辨表征的低真空場發(fā)射掃描電子顯微
更新時間:2025-07-31
Inspect  FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡
fei inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統(tǒng)高分辨率樣品研究所需的一切,簡單易用的 inspecttm 專為滿足研究各類材料以及表征材料結(jié)構(gòu)和成分的主流需求而設(shè)計,配備高穩(wěn)定分辨率平臺,可滿足大
更新時間:2025-07-31
Verios XHR SEM  FEI Verios XHR SEM 掃描電子顯微鏡
fei verios xhr sem 掃描電子顯微鏡是 fei *的 xhr(*分辨率)sem 系列的第二代產(chǎn)品。在*半導(dǎo)體制造和材料科學(xué)應(yīng)用中,它可在 1 至 30 kv 范圍內(nèi)提供亞納米量級分辨率
更新時間:2025-07-31
Gemini  蔡司 Gemini SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡
蔡司 gemini sem場發(fā)射掃描電子顯微鏡二十多年來,基于日漸完善的gemini技術(shù),geminisem具有完整高效的檢測系統(tǒng)、*的分辨率以及簡便的操作方式。gemini物鏡設(shè)計將靜電場與磁場結(jié)合
更新時間:2025-07-31
SIGMA  蔡司 SIGMA高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡
蔡司 sigma高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡采用成熟的gemini光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計,分辨率超過0.8nm,為您提供zui高分辨率和*分析性能科研平臺。sigma500/vp專注于*的eds幾何學(xué)設(shè)計使您可
更新時間:2025-07-31
EVO MA  蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡
蔡司 evo ma鎢燈絲掃描電子顯微鏡將鎢燈絲掃描電鏡的發(fā)展帶入了全新的時代,超大樣品室為各類繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案,自動化的5軸樣品臺和大的x、y、z軸跟蹤掃描以及可變壓力的檢
更新時間:2025-07-31
Apreo  FEI SEM Apreo 掃描電子顯微鏡
fei sem apreo 掃描電子顯微鏡革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù),可產(chǎn)生*的高分辨率和信號選擇。這使得 apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺,并且不會降低
更新時間:2025-07-31
FEI Titan ETEM G2 透射電子顯微鏡
?titan etem g2 是我們專用的環(huán)境 tem 平臺,設(shè)計用來觀測功能性納米材料及其隨著時間的推移對氣體和溫度刺激的響應(yīng)。憑借du一無二的差動泵目鏡,標本區(qū)可變身為實驗室,展開對催化劑微粒、納米器件和其他材料的研究,進而在原子級別洞察表面和界面形態(tài)及相互作用。在需要時,titan etem 還可作為標準 s/tem 開展原子級別成像。- 化學(xué)成分和價鍵狀態(tài)研究
更新時間:2025-07-31
FEI  Apreo 場發(fā)射掃描電子顯微鏡
apreo 復(fù)合透鏡設(shè)計結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù),可產(chǎn)生前所未有的高分辨率和信號選擇。這使得 apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺,并且不會降低磁性樣品性能。apreo 受益于獨特的透鏡內(nèi)背散射探測,這種探測提供卓越的材料對比度,即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時也不例外。新型復(fù)合透鏡通過能量過濾進一步提高了對比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過濾?蛇x低真空模式,現(xiàn)在的zui大樣品倉壓力為 500 pa,可以對要求zui嚴苛的絕緣體進行成像。通過這些優(yōu)勢(包括復(fù)合末級透鏡、高級探測和靈活樣品處理),apreo 可提供出色的性能和多功能性,幫助您應(yīng)對未來的研究難題。
更新時間:2025-07-31
FEI Talos F200系列 透射電子顯微鏡
fei talos f200x 融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (stem) 和 tem 成像功能與行業(yè)ling先的能量色散 x 射線光譜儀 (eds) 信號檢測功能及基于成分測繪的三維化學(xué)表征功能。talos f200x 可在所有維度 (1d-4d) 下實現(xiàn)zui快速、zui精確的 eds 分析,以及zui好且支持快速導(dǎo)航的動態(tài)顯微鏡 hrtem 成像。fei talos f200x 融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (stem) 和 tem 成像功能與行業(yè)ling先的能量色散 x 射線光譜儀 (eds)。talos f200s 在 stem 成像上具有極大的多功能性和極高的通量。它可以為動態(tài)顯微鏡實現(xiàn)zui精確的 eds 分析和zui好的 hrtem。與此同時,fei talos f200s 還提供zui高的穩(wěn)定性和最長的正常運行時間。
更新時間:2025-07-31
FEI Quanta系列 環(huán)境掃描電子顯微鏡
要特點:1.fei esem(環(huán)境掃描電鏡)技術(shù), 可在高真空、低真空和環(huán)境真空條件下對各種樣品進行觀察和分析。2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀分析。3.先進的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)平臺,全數(shù)字化系統(tǒng)。
更新時間:2025-07-31
FEI Verios  XHR SEM 掃描電子顯微鏡
verios xhr semverios 是 fei ling先的 xhr(極高分辨率)sem 系列的第二代產(chǎn)品。在jian端半導(dǎo)體制造和材料科學(xué)應(yīng)用中,它可在 1 至 30 kv 范圍內(nèi)提供亞納米量級分辨率以及增強的對比度,滿足材料精密測量所需,同時又不會削弱傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡 (sem) 所具有的高吞吐量、分析能力、樣本靈活性和易用性等優(yōu)勢。verios 的生命科學(xué)應(yīng)用觀測敏感的生物樣本時,
更新時間:2025-07-31
飛納 Phenom Pro 全自動臺式掃描電子顯微鏡
飛納高分辨率專業(yè)版 phenom pro 是飛納電鏡系列中最先進的產(chǎn)品,第四代 phenom pro 放大倍數(shù)提升為 130,000 倍,分辨率優(yōu)于 14 nm,30 秒快速得到表面細節(jié)豐富的高質(zhì)量圖像,是目前世界上分辨率最高的臺式掃描電鏡,可用于測量亞微米或納米尺度的樣品;飛納高分辨率專業(yè)版 phenom pro 繼承了飛納電鏡系列高分辨率、15 秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、全自動操作、2-3 年更換燈絲及防震設(shè)計等優(yōu)點。
更新時間:2025-07-31
蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡
蔡司公司最新推出的sigma 500/vp場發(fā)射掃描電鏡采用成熟的gemini光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計,分辨率超過0.8nm,為您提供最高分辨率和最佳分析性能科研平臺。sigma500/vp專注于一流的eds幾何學(xué)設(shè)計使您可以獲取精湛的分析性能。借助sigma直觀便捷的四步工作流程可以快速成像、簡化分析程序、提高工作效率。您會比以往更快、更多的獲取數(shù)據(jù)。多種探測器的選擇使sigma500/vp可以精準的匹配您的應(yīng)用程序:您可以獲取微小粒子、表面、納米結(jié)構(gòu)、薄膜、涂層和多層的圖像信息!炯夹g(shù)參數(shù)】分辨率: 0.8nm @15 kv 1.6 nm @1kv
更新時間:2025-07-31

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熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質(zhì) 生物試劑