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掃描電子顯微鏡(SEM)產(chǎn)品及廠家
JSM-IT800SHL日本電子JEOL場發(fā)射掃描電鏡
jsm-it800shl 是日本電子株式會社(jeol) 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡,它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流,高穩(wěn)定性的傳統(tǒng),同時將分辨率提高到新的限,全新設(shè)計的超混合型物鏡,高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成,而且標(biāo)配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:
2025-06-06
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
i-Wafer德國KSI 型 全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng),在ksi i-wafer的探測下,晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測
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2025-06-06
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
i-IngotKSI 型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng)
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測,有了它,晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測,晶錠的尺寸可達(dá)450mm,檢測時間短,也不需要做其它設(shè)定。
更新時間:
2025-06-06
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Nano型KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi-nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
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2025-06-06
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
V-duo德國KSI 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),同時使用2只換能器
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2025-06-06
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Crossbeam 350,Crossbeam 550德國ZEISS蔡司聚焦離子束掃描電鏡FIB/SEM
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350,crossbeam 550
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2025-06-06
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JSM-IT200 InTouchScope日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ,是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航,可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野,live analysis*2可以不用特意分析就能實(shí)時獲取元素分析結(jié)果,smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
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2025-06-06
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JSM-IT500HR日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr,采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng),可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率;從設(shè)定視野到生成報告,利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時間:
2025-06-06
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JSM-7900F日本JEOL熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f
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2025-06-06
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
IB-09060CIS日本JEOL低溫冷凍離子切片儀
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis,冷卻保持時間長,有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品,也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
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2025-06-06
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
EM-09100IS日本JEOL 離子切片儀
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ,用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度(0°到6°)的氬離子束通過遮光帶照射樣品,大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好,對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
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2025-06-06
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
IB-19530CP日本JEOL截面樣品拋光儀
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp,采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
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2025-06-06
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
IB-19530CP日本JEOL截面樣品制備裝置
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp,采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
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2025-06-06
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
IB-19520CCP日本JEOL 截面樣品拋光儀
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp,在加工過程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計。在裝有液氮的情況下,也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫,并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu),在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:
2025-06-06
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
日本JEOL 軟X射線分析譜儀
日本jeol 軟x射線分析譜儀,通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度x射線ccd相機(jī),實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測,并且能以0.3ev(費(fèi)米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析,超過了wds的能量分辨率。
更新時間:
2025-06-06
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JXA-iHP100日本JEOL 電子探針顯微分析儀
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100,可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測器,組合使用wds和eds,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
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2025-06-06
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JIB-4000日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000,配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后,就能對樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨,沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品,為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較,sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異,這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時間:
2025-06-06
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JIB-4700F日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f,該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng),在1kv低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合,可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
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2025-06-06
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JSX-1000S日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s,采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(fp法・檢量線法)、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
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2025-06-06
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
HV-THz-neaSNOM德Neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡
德neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom,該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計優(yōu)勢,采用專利保護(hù)的雙光路設(shè)計,完全可以實(shí)現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實(shí)現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時,由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源(thz-tds),也可以實(shí)現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:
2025-06-06
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
THz-NeaSNOM太赫茲近場光學(xué)顯微鏡
thz-neasnom太赫茲近場光學(xué)顯微鏡 -30nm光學(xué)信號空間分辨率
更新時間:
2025-06-06
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
SEM掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡
sem掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中,掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:
2025-06-06
該公司產(chǎn)品分類:
上海雋思實(shí)驗儀器有限公司
SEM掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡#2023已更新
sem掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中,掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:
2025-06-06
該公司產(chǎn)品分類:
上海雋思實(shí)驗儀器有限公司
掃描電鏡JSM-6510 鄭先生18165774321
掃描電鏡最基本的功能是對各種固體樣品表面進(jìn)行高分辨形貌觀察。應(yīng)用于生物學(xué)、植物學(xué)、地質(zhì)學(xué)、冶金學(xué)等領(lǐng)域。觀察可以是一個樣品的表面,也可以是一個切開的面,或是一個斷面。冶金學(xué)家已興奮地直接看到原始的或磨損的表面?梢院芊奖愕匮芯垦趸锉砻妫w的生長或腐蝕的缺陷。例如:花粉顆粒,硅藻和昆蟲。另一方面,它可以拍出與樣品表面相應(yīng)的立體感強(qiáng)的照片。
更新時間:
2025-06-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市瑞盛科技有限公司
熱場發(fā)射掃描電鏡進(jìn)口廠價
jsm-7001f熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應(yīng)用需求的理想平臺。jsm-7001f具有大型、5軸、全對中馬達(dá)驅(qū)動自動化樣品臺,還有單動作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑,即使在大電流和低電壓時,也具有適用于eds、wds、ebsp和cl的理想結(jié)構(gòu)的擴(kuò)充性。樣品室可處理直徑最大為 200mm的樣品。 q -6154
更新時間:
2025-06-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市瑞盛科技有限公司
臺式掃描電鏡進(jìn)口廠價
賽可臺式掃描電鏡sne-3200m最大放大倍率6萬倍,采用二次電子和背散射電子雙重探測器,加速電壓選擇范圍廣,圖像分辨率高,非導(dǎo)電性樣品不經(jīng)過前處理即可直接觀察分析,圖像景深高,立體感強(qiáng),分辨率高,支持eds等成分分析設(shè)備。 q -6154
更新時間:
2025-06-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市瑞盛科技有限公司
掃描電鏡原理參數(shù)
掃描電鏡是用極細(xì)的電子束在樣品表面掃描,將產(chǎn)生的二次電子用特制的探測器收集,形成電信號運(yùn)送到顯像管,在熒光屏上顯示物體。(細(xì)胞、組織)表面的立體構(gòu)像,可攝制成照片。 q -6154
更新時間:
2025-06-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市瑞盛科技有限公司
臺式掃描電鏡原理參數(shù)
賽可臺式掃描電鏡的sim探測器,觀察微觀區(qū)域精細(xì)表面形貌,同時可選配bse和eds,表征微區(qū)成分信息,可擴(kuò)展低真空觀察模式,非導(dǎo)電樣品直接用bse探測器觀察,免制備導(dǎo)電膜層,使用當(dāng)前最先進(jìn)的電子光學(xué)設(shè)計,自動控制技術(shù),二次電子分辨率達(dá)到7nm @20kv,是目前臺式掃描電鏡的最高水平。 q -6154
更新時間:
2025-06-05
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深圳市瑞盛科技有限公司
掃描電鏡SEM技術(shù)參數(shù)
jsm-7001f熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應(yīng)用需求的理想平臺。jsm-7001f具有大型、5軸、全對中馬達(dá)驅(qū)動自動化樣品臺,還有單動作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑,即使在大電流和低電壓時,也具有適用于eds、wds、ebsp和cl的理想結(jié)構(gòu)的擴(kuò)充性。樣品室可處理直徑最大為 200mm的樣品。 q -6154
更新時間:
2025-06-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市瑞盛科技有限公司
迷你掃描電鏡技術(shù)參數(shù)
掃描電鏡sne-3000mb最大放大倍率高達(dá)3萬倍,采用背散射電子探測器(固態(tài)型)非導(dǎo)電性樣品,不經(jīng)過前處理即可直接觀察分析-標(biāo)準(zhǔn)模式-充電式還原模式樣品交換1分鐘內(nèi)即可獲取圖像-高,低真空系統(tǒng)提供背散射電子圖像含水分樣品可選配冷卻載臺不經(jīng)過前處理實(shí)時觀察分析。q -6154
更新時間:
2025-06-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市瑞盛科技有限公司
賽可迷你掃描電鏡SEM
深圳市瑞盛科技是韓國賽可公司在中國區(qū)域的戰(zhàn)略合作伙伴,一起致力于廣大中小企業(yè)分析檢測的專業(yè)設(shè)備提供商,賽可公司研發(fā)生產(chǎn)的迷你掃描電鏡實(shí)現(xiàn)了大電鏡的小型化處理,結(jié)構(gòu)緊湊操作便捷。 q -6154
更新時間:
2025-06-05
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深圳市瑞盛科技有限公司
賽可臺式掃描電鏡mini-sem
賽可臺式掃描電鏡mini-sem放大倍數(shù)高(相對光學(xué)顯微鏡)、成像速度快、大景深、體積小巧、操作簡便、價格便宜等。q -6154
更新時間:
2025-06-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市瑞盛科技有限公司
韓國進(jìn)口掃描電鏡mini-sem優(yōu)惠價
韓國進(jìn)口掃描電鏡mini-sem最大放大倍率10萬倍 、采用二次電子和背散射電子雙重探測器 、加速電壓選擇范圍廣,圖像分辨率高 、非導(dǎo)電性樣品不經(jīng)過前處理即可直接觀察分析 、圖像景深高,立體感強(qiáng),分辨率高 、支持eds等成分分析設(shè)備。 q -6154
更新時間:
2025-06-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市瑞盛科技有限公司
臺式掃描電鏡Mini-sem
賽可臺式掃描電鏡載物臺5軸控制系統(tǒng)(傾斜功能x,y(40mm), r(360˚), tilt(45˚), z(0~35mm),支持自動化功能(自動對焦,自動調(diào)整對比度和亮度,調(diào)整電子束尺寸,消像散) 鼠標(biāo)操控,操作便捷,可存儲多種形式圖片,測量分析方式多樣。 q -6154
更新時間:
2025-06-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市瑞盛科技有限公司
掃描電鏡價錢多少
jsm-6510分析型掃描電子顯微鏡,與日本電子公司的元素分析儀(eds),統(tǒng)合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的eds由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制,操作員只用一只鼠標(biāo),就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。 q -6154
更新時間:
2025-06-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市瑞盛科技有限公司
迷你掃描電鏡價錢多少
賽可sne-3000mb最大放大倍率高達(dá)3萬倍,采用背散射電子探測器,非導(dǎo)電性樣品不經(jīng)過前處理即可直接觀察分析,樣品交換1分鐘內(nèi)即可獲取圖像,提供背散射電子圖像。 q -6154
更新時間:
2025-06-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市瑞盛科技有限公司
掃描電鏡廠家優(yōu)惠價
日本電子jsm-6510分析型掃描電子顯微鏡,與日本電子公司的元素分析儀(eds),統(tǒng)合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的eds由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制,操作員只用一只鼠標(biāo),就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。 q -6154
更新時間:
2025-06-05
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深圳市瑞盛科技有限公司
臺式掃描電鏡廠家優(yōu)惠價
最大放大倍率高達(dá)3萬倍,采用背散射電子探測器(solid state type),非導(dǎo)電性樣品不經(jīng)過前處理即可直接觀察分析,樣品交換1分鐘內(nèi)即可獲取圖像, high & low vacuum system,提供背散射電子圖像,含水分樣品可選配冷卻載臺不經(jīng)過前處理實(shí)時觀察分析。 q -6154
更新時間:
2025-06-05
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深圳市瑞盛科技有限公司
掃描電鏡特價 日本電子JSM-6510
掃描電子顯微鏡jsm-6510采用了熱電子槍,內(nèi)有標(biāo)準(zhǔn)菜單能滿足用戶的多樣化需求,豐富的選配件如cryo系統(tǒng)等能進(jìn)一步擴(kuò)大應(yīng)用范圍,預(yù)安裝的標(biāo)準(zhǔn)菜單中凝集了日本電子的專業(yè)知識和經(jīng)驗,可以安裝低溫冷凍系統(tǒng)、冷凍樣品臺等豐富的選配件,還可選配eds進(jìn)行元素分析。q -6154即使是sem新手也能設(shè)定適合每個樣品的條件。
更新時間:
2025-06-05
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深圳市瑞盛科技有限公司
掃描電鏡SNE-3200M多少價錢 臺式桌上型電鏡
賽可掃描電鏡sne-3200m最大放大倍率6萬倍;采用二次電子和背散射電子雙重探測器;加速電壓選擇范圍廣,圖像分辨率高;非導(dǎo)電性樣品不經(jīng)過前處理即可直接觀察分析;圖像景深高,立體感強(qiáng),分辨率高;支持eds等成分分析設(shè)備。q -6154
更新時間:
2025-06-05
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深圳市瑞盛科技有限公司
掃描電鏡JSM-6010 電子顯微鏡SEM
日本電子掃描電子顯微鏡jsm-6010系列觸控式電子顯微鏡jsm-6010是一款高效能、操作容易、高效率的電子顯微鏡,全新設(shè)計的intouchscope操作界面,即便是初次使用儀器的人員也能輕松上手。面對越來越多元化的操作環(huán)境需求,jsm-6010的操作設(shè)計,能讓您更輕松、有效率的使用儀器。 q -6154
更新時間:
2025-06-05
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深圳市瑞盛科技有限公司
臺式掃描電鏡 賽可mini SNE-3200特價
臺式掃描電鏡sne-3200最大放大倍率6萬倍;采用二次電子和背散射電子雙重探測器;加速電壓選擇范圍廣,圖像分辨率高;非導(dǎo)電性樣品不經(jīng)過前處理即可直接觀察分析;圖像景深高,立體感強(qiáng),分辨率高;支持eds等成分分析設(shè)備。 q -6154
更新時間:
2025-06-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市瑞盛科技有限公司
日本電子掃描電鏡SEM價格多少
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進(jìn)行觀察,可隨意調(diào)節(jié)放大倍數(shù),直觀的操作界面的設(shè)計,簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:
2025-06-05
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深圳市瑞盛科技有限公司
臺式掃描電鏡SNE-3000MB價錢多少
臺式掃描電鏡sne-3000mb最大放大倍率3萬倍;采用二次電子和背散射電子雙重探測器;加速電壓選擇范圍廣,圖像分辨率高;非導(dǎo)電性樣品不經(jīng)過前處理即可直接觀察分析;圖像景深高,立體感強(qiáng),分辨率高;支持eds等成分分析設(shè)備。 q -6154
更新時間:
2025-06-05
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深圳市瑞盛科技有限公司
臺式掃描電鏡SNE-4500M原理
臺式掃描電鏡sne-4500m最大放大倍率10萬倍,圖像景深高,立體感強(qiáng),分辨率高,載物臺5軸控制系統(tǒng)(傾斜功能), 支持自動化功能(自動對焦,自動調(diào)整對比度和亮度,調(diào)整電子束 尺寸,消像散),鼠標(biāo)操控,操作便捷,可存儲多種形式圖片,測量分析方式多樣,可選配eds,bse,馬達(dá)操控載物臺等多種配件。 q -6154
更新時間:
2025-06-05
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深圳市瑞盛科技有限公司
日本電子掃描電鏡JSM-6510技術(shù)參數(shù)
日本電子通用型掃描電子顯微鏡jsm-6510系列,采用了熱電子槍,內(nèi)有標(biāo)準(zhǔn)菜單能滿足用戶的多樣化需求,豐富的選配件如cryo系統(tǒng)等能進(jìn)一步擴(kuò)大應(yīng)用范圍。q -6154
更新時間:
2025-06-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市瑞盛科技有限公司
掃描電鏡JSM-6510廠家特價
日本電子通用型掃描電子顯微鏡jsm-6510系列,采用了熱電子槍,內(nèi)有標(biāo)準(zhǔn)菜單能滿足用戶的多樣化需求,豐富的選配件如cryo系統(tǒng)等能進(jìn)一步擴(kuò)大應(yīng)用范圍,可以安裝低溫冷凍系統(tǒng)、冷凍樣品臺等豐富的選配件。 q -6154
更新時間:
2025-06-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市瑞盛科技有限公司
日本電子掃描電鏡高低空一體機(jī)JSM
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進(jìn)行觀察,可隨意調(diào)節(jié)放大倍數(shù),直觀的操作界面的設(shè)計,簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:
2025-06-05
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深圳市瑞盛科技有限公司
日本電子掃描電鏡高低空一體機(jī)SEM價格多少
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進(jìn)行觀察,可隨意調(diào)節(jié)放大倍數(shù),直觀的操作界面的設(shè)計,簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:
2025-06-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市瑞盛科技有限公司
日本電子掃描電子顯微鏡SEM-6510
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進(jìn)行觀察,可隨意調(diào)節(jié)放大倍數(shù),直觀的操作界面的設(shè)計,簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
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2025-06-05
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