光學測量儀產品及廠家

萬濠rational自動影像測量儀VMS-2515H
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更新時間:2025-08-02
萬濠rational自動影像測量儀VMS-3020H
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更新時間:2025-08-02
萬濠rational自動影像測量儀VMS-4030H
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更新時間:2025-08-02
萬濠rational落地式自動影像儀 VMS-5040H
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更新時間:2025-08-02
萬濠rational落地式半自動影像儀VMS-5040M
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更新時間:2025-08-02
測量投影儀CPJ-3007
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更新時間:2025-08-02
測量投影儀CPJ-3007Z
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更新時間:2025-08-02
測量投影儀CPJ-3010
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更新時間:2025-08-02
測量投影儀CPJ-3010Z
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更新時間:2025-08-02
測量投影儀CPJ-3015
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更新時間:2025-08-02
測量投影儀CPJ-3015Z
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更新時間:2025-08-02
測量投影儀CPJ-3015A
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更新時間:2025-08-02
測量投影儀CPJ-3015AZ
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更新時間:2025-08-02
測量投影儀CPJ-3020A
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更新時間:2025-08-02
測量投影儀CPJ-3020AZ
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更新時間:2025-08-02
測量投影儀CPJ-3025A
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更新時間:2025-08-02
測量投影儀CPJ-3025AZ
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更新時間:2025-08-02
測量投影儀CPJ-3030A
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更新時間:2025-08-02
測量投影儀CPJ-3030AZ
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更新時間:2025-08-02
測量投影儀CPJ-3040A
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更新時間:2025-08-02
測量投影儀CPJ-3040AZ
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更新時間:2025-08-02
臥式測量投影儀CPJ-3020W
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更新時間:2025-08-02
臥式測量投影儀CPJ-4025W
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更新時間:2025-08-02
影像測量儀VMS-1510G
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更新時間:2025-08-02
影像測量儀VMS-1510F
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更新時間:2025-08-02
影像測量儀VMS-2010G
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更新時間:2025-08-02
影像測量儀VMS-2010F
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更新時間:2025-08-02
影像測量儀VMS-2515G
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更新時間:2025-08-02
影像測量儀VMS-2515F
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更新時間:2025-08-02
影像測量儀VMS-3020G
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更新時間:2025-08-02
影像測量儀VMS-3020F
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更新時間:2025-08-02
影像測量儀VMS-4030G
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更新時間:2025-08-02
工具顯微鏡VTM-1510
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更新時間:2025-08-02
工具顯微鏡VTM-1510F
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更新時間:2025-08-02
工具顯微鏡VTM-2010
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更新時間:2025-08-02
工具顯微鏡VTM-2515
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更新時間:2025-08-02
工具顯微鏡VTM-2515F
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更新時間:2025-08-02
工具顯微鏡VTM-3020
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更新時間:2025-08-02
工具顯微鏡VTM-3020F
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更新時間:2025-08-02
工具顯微鏡VTM-4030
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更新時間:2025-08-02
工具顯微鏡VTM-4030F
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更新時間:2025-08-02
影像儀二次元VMS-4030G
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更新時間:2025-08-02
固定式三維掃描儀
該設備延續(xù)原系列計量級精度和強大細節(jié)還原能力;集成兩組高分辨率掃描模組,可實現(xiàn)兩個不同掃描范圍的一鍵切換,無需手動更換鏡頭及調焦。且設計單雙目模式,提升凹槽等位置的數據獲取能力;提升掃描速度,進一步加快工業(yè)精密3d測量的工作效率。適用于汽車工業(yè)、民用航空、電子電器、醫(yī)療、文物保護等領域。
更新時間:2025-08-01
一鍵閃測儀iVS系列國產閃測儀閃測儀
一鍵閃測儀ivs系列國產閃測儀閃測儀廣泛應用于機械、電子、模具、注塑、五金、橡膠、低壓電器、磁性材料、精密沖壓、接插件、連接器、端子、手機、家電、印刷電路板、醫(yī)療器械、鐘表、刀具等。
更新時間:2025-08-01
3000℃超高溫黑體校準源
產品具備快速加熱、高精度和移動式設計等顯著優(yōu)勢。相比國外同級別設備體積龐大、需專用空間的痛點,kf-h3000 采用立體滾輪設計,在保持同等高強性能的同時,大幅縮減空間占用,使用更靈活高效。
更新時間:2025-08-01
150K~450K超低溫面源黑體
hy-ml系列超低溫面源黑體為真空環(huán)境適用的面源黑體產品,其溫度控制采用薄膜型加熱器件,主動降溫則通過液氮或低溫循環(huán)氦氣實現(xiàn)。搭配自主研發(fā)的溫度控制系統(tǒng)后,能夠在較寬的溫度區(qū)間內(150k~450k,低溫均可擴展至40k)實現(xiàn)調控。該面源黑體具有溫度均勻性好、發(fā)射率高的特點,同時集成化與標準化程度較高,可應用于實驗室及真空低溫環(huán)境下紅外成像器的輻射定標和非均勻性校正工作。
更新時間:2025-08-01
+5℃~200℃中溫面源黑體
hy-mh系列中溫面源黑體采用薄膜型加熱器件驅動溫度,搭配自主研發(fā)的溫度控制系統(tǒng),實現(xiàn)寬溫范圍的精確調控。該設備兼具高均勻性、高發(fā)射率、高集成度與標準化程度,采購成本更具優(yōu)勢,適用于實驗室與外場等多種場景下的紅外成像器輻射定標及非均勻性校正工作。
更新時間:2025-08-01
+5℃~550℃高溫面源黑體
hy-mq系列高溫面源黑體作為一直高輻射強度的參考源,設備支持環(huán)境溫度+5℃~550℃的絕對溫度調節(jié),輻射面具備高均勻度與高發(fā)射率特點,溫度分辨率達0.01k,且能在20℃~70℃的環(huán)境下穩(wěn)定運行,廣泛應用于紅外傳感器如輻射溫度計、紅外熱像儀的校準以及樣品輻射率或透過率的測量。
更新時間:2025-08-01
0℃~125℃超精密面源差分黑體
hy-ms系列超精密面源黑體可輸出標準紅外輻射,為紅外成像器的地面輻射定標試驗與性能測試提供穩(wěn)定基準。該系列采用tec溫度驅動方式,搭配自主研發(fā)的溫度控制系統(tǒng),實現(xiàn)寬溫范圍內的精確調控。憑借高發(fā)射率、高均勻性與高控溫精度的特性,hy-ms 系列超精密面源黑體能夠滿足實驗室、外場等多種場景下,紅外成像器輻射定標與非均勻性校正的應用需求。
更新時間:2025-08-01
-30°C-150°C低溫半導體黑體輻射源
sw-dt-r 系列低溫黑體校準源覆蓋-30°c至150°c寬廣溫區(qū),為低溫至中溫校準場景提供支持。
更新時間:2025-08-01

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