光學測量儀產品及廠家

汽車前檔貼膜透光率測試儀
ns530a汽車前檔貼膜透光率測試儀具有三個獨立測試單元分別為紫外，紅外，和可見光，顯示值為紅外透過率值，紫外透過率值和可見光透過率值。
更新時間:2025-08-04
卡式便攜式透光率儀
ns13a卡式便攜式透光率儀，透光率測試儀，透光率檢測儀，透光率計，透過率測試儀，玻璃透光率儀，鏡片透光率測試儀，眼鏡片透光率儀，透明材料透光率儀，涂料透光率儀，太陽鏡片透光率測試儀
更新時間:2025-08-04
臺式光學透過率測試儀
ns550h臺式光學透過率測試儀測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。
更新時間:2025-08-04
便攜式透光率儀
ns15a透光率儀是一款寬譜線可見光(380nm～760nm)測量儀，測試原理是采用三路完全相同的可見光源照射被測透明物質，感應器分別探測三路光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。
更新時間:2025-08-04
中空玻璃空氣層厚度測量儀
ns500中空玻璃空氣層厚度測量儀測試原理是利用光學反射原理，可在玻璃的單側表面測量玻璃厚度，尤其適用于通用測量工具如刻度尺或卡尺等不能或不易操作的測量場合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃（中空玻璃）窗厚度的測量。對于空氣夾層玻璃的測量，還可以同時獲得兩層玻璃及中間空氣層的厚度。
更新時間:2025-08-04
美國NANOVEA三維表面形貌儀
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達1m/s,采用國際領先的白光共聚焦技術，可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復性好的優(yōu)點，該儀器可用于測量大尺寸樣品或質檢現(xiàn)場使用。
更新時間:2025-08-04
德國YXLON 高分辨率Ｘ射線檢測設備
德國 yxlon 高分辨率ｘ射線檢測設備 y.cougar smt 平板探測器（標配） y.cheetah 高速平板探測器（標配）
更新時間:2025-08-04
美國Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
美國royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統(tǒng)
更新時間:2025-08-04
美國Royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)
美國royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側面檢測,可選配芯片轉向功能.
更新時間:2025-08-04
美國RTI自動特性圖示儀
美國rti自動特性圖示儀 mt century curve tracer，是一個性價比較高的曲線追蹤設備。最多到96個channel，提供4種型號可供客戶選擇，mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他rti機型一樣，mt century系統(tǒng)的設計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時間:2025-08-04
德國Klocke Nanotech 3D納米級三維測量儀
德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger，是一種實用的納米精度坐標和形貌綜合測量設備。由臺架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸，表面輪廓、粗糙度等，并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合，進行在線檢測、質量控制等。
更新時間:2025-08-04
日本A&D粒子計數(shù)器（粒度計）
日本a&d粒子計數(shù)器（粒度計）sv-1a,是使用點監(jiān)測的低成本替代設備,計數(shù)值高達2,000,000個粒子/ft.
更新時間:2025-08-04
美國Filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)
美國filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)f20，f30，f40，f50，f60，f3-xxt 系列，臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
更新時間:2025-08-04
美國 SONIX 超聲波掃描顯微鏡
美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求，更復雜元器件設計的新一代設備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產量,無需人員重復設置.
更新時間:2025-08-04
德國Bruker傅氏轉換紅外光譜儀
德國bruker傅氏轉換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經傅利葉轉換進而分析雜質濃度的光譜分析儀器。
更新時間:2025-08-04
德國Bruker FT-NIR光譜儀
德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經在包括制藥，食品，農業(yè)和化學行業(yè)在內的所有行業(yè)的質量控制應用中得到了很好的應用。它為耗時的濕法化學方法和色譜技術提供了一種實用的替代方法。ft-nir無破壞性，不需要樣品制備或危險化學品，使其定量和定性分析快速可靠。
更新時間:2025-08-04
美國sinton少子壽命測試儀
sinton少子壽命測試儀wct-120，suns-voc，硅片少子壽命測試系統(tǒng)，采用了獨特的測量和分析技術，包括準穩(wěn)定態(tài)光電導(qsspc)測量方法？伸`敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應,表面復合效應等缺陷情況。
更新時間:2025-08-04
德Bruker光學輪廓儀
德bruker光學輪廓儀contorugt-表面量測系統(tǒng)-供生產qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學輪廓儀
更新時間:2025-08-04
德國Sentech 實時監(jiān)測儀
sentech ald實時監(jiān)測儀是一種新型的光學診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內開發(fā)新工藝、實時研究ald循環(huán)中的反應機理是sentech ald實時監(jiān)測儀的主要應用。
更新時間:2025-08-04
美國OGP光學式坐標測量儀
美國ogp光學式坐標測量儀 zip 250 ，5:1 accucentric 電動變焦透鏡，在每次放大變倍時自動校準，可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時間:2025-08-04
接觸角測定儀
jy—pha接觸角測定儀，用于液體對固體的浸潤性，通過測量液體對固體的接觸角、計算、測定液體對固體的附著力，張力及固體表面能等指標。
更新時間:2025-08-04
接觸角測量儀
100標準型接觸角測量儀，采用高性能日本原裝進口工業(yè)機芯，工業(yè)級連續(xù)變倍顯微鏡，確保圖像的真實性，獲取最佳的成像效果。
更新時間:2025-08-04
美Associated 耐壓測試儀​
美associated 耐壓測試儀​hypotmax 7710 ，是一款12 kvdc hipot測試儀，用于為電纜、電線、線束和電氣元件測試提供高直流輸出電壓。該產品非常易于使用，并為安全有效的測試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統(tǒng)。最后，該系統(tǒng)具有遠程安全聯(lián)鎖和數(shù)控電弧檢測系統(tǒng)。
更新時間:2025-08-04
美Montana超精細多功能無液氦低溫光學恒溫器
montana 新型超精細多功能無液氦低溫光學恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環(huán)的制冷系統(tǒng)只需要極少量的氦氣即可讓系統(tǒng)達到極限低溫。系統(tǒng)具有超快降溫、超低震動和超高的溫度穩(wěn)定性。全自動化的控制軟件，簡化了用戶的操作流程。
更新時間:2025-08-04
德國Attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡
德國attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無磁性材料制備的高數(shù)值孔徑（na）共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來滿足odmr實驗的需求。
更新時間:2025-08-04
德國Optosol 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀
德國optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀，用于測量管狀或平面太陽能吸收涂層的定向熱發(fā)射度，其基礎是測量來自擴展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時間:2025-08-04
德Optosol太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀
德optosol-k3 太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀，k3型發(fā)射率檢測儀由一個被加熱到70℃的發(fā)光體（作為熱輻射源）和三個對波長在8-14μm范圍的光線敏感的探測器組成。 來自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內。檢測器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測量的是由樣品反射回來的輻射。
更新時間:2025-08-04
德國Optosol 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀
optosol absorber control k1 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀，
更新時間:2025-08-04
美國OAI標準太陽能模擬器
trisol aaa美國oai標準太陽能模擬器，低成本，標準太陽模擬器提供高度準直，均勻的光，幾乎任何材料或產品暴露在陽光下長時間或短時間的基本測試。根據(jù)配置，這些太陽能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時間:2025-08-04
美國OAI太陽能模擬器
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國oai太陽能模擬器，這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽模擬器可以提供一個范圍的空氣質量過濾器復制太陽能模擬太陽的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術可以使一個廣泛的接觸區(qū)域。
更新時間:2025-08-04
美國 D&S 發(fā)射率測量儀
美國 d&s 發(fā)射率測量儀 ae1/rd1，是專門針對測量物體的輻射率設計的，ae1測量樣品最小直徑為2.25英寸（5.7cm）？蛇x附件ae-ad1和ae-ad3探測頭能使測量樣品最小直徑為1.0英（2.54cm），可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量，可以測量平行放置的多個樣品。
更新時間:2025-08-04
美國SONIX 晶圓檢測設備
美國sonix 晶圓檢測設備 autowafe pro.為全自動晶圓檢測設計的機型，主要應用在bond wafer，mems 內部空洞、離層檢測，tsv量測方面。
更新時間:2025-08-04
美國泰克TEK Keithley半導體參數(shù)分析儀
美國泰克tek keithley半導體參數(shù)分析儀4200a-scs ，加快半導體設備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內領先性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測量。
更新時間:2025-08-04
瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ，非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來實現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎的設計, coreafm非常合理的實現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
更新時間:2025-08-04
韓國Ecopia霍爾效應測量系統(tǒng)
韓國ecopia霍爾效應測量系統(tǒng)hms3000，hms5000，用于研究半導體材料/光電材料的電學特性，可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。
更新時間:2025-08-04
美國 MMR 霍爾效應測量系統(tǒng)
美國 mmr 霍爾效應測量系統(tǒng) h5000，用于研究光電材料的電學特性，利用范德堡測量技術測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。
更新時間:2025-08-04
半導體測試探針臺
半導體測試探針臺kup007，emp100c，emp100b，emp50s
更新時間:2025-08-04
德國Mecwins 掃描式激光分析儀
德國mecwins 掃描式激光分析儀scala，它是用激光入射掃描樣品表面，收集反射信號得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時間:2025-08-04
德國ThetaMetrisis FR-Mini 膜厚測量儀
fr-mini 是一款緊湊型裝置，專為大學教育和研究實驗室設計，用于快速、準確和無損地表征各種不同的涂層。使用 fr-mini，用戶還可以在較寬的光譜范圍內輕松進行反射率和/或透射率測量。
更新時間:2025-08-04
德國ThetaMetrisis FR-Pro 膜厚測量儀
fr-pro 膜厚測量儀 用于表征1nm-3mm厚度范圍內的 涂層的模塊化和可擴展平臺。
更新時間:2025-08-04
德國TheMetrisis FR-Scanner自動化超高速薄膜厚度測繪
fr-scanner 是一款緊湊的臺式測量工具，全自動測繪涂層的厚度，基底適用于晶圓，掩膜版及其它材料。fr-scanner 可以快速和準確地測量薄膜特性，比如厚度，折射系數(shù)，均勻性，色度等，真空吸盤可應用于任何直徑或其它形狀的樣品。
更新時間:2025-08-04
日本理學X射線衍射儀
日本理學x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質量管理，可對應大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時間:2025-08-04
日本理學X射線衍射儀
日本理學x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質量管理，可對應大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時間:2025-08-04
德國NETZSCH差示掃描量熱儀
差示掃描量熱儀dsc 300 ，是全面、可靠的dsc儀器系列，表征材料熱性能游刃有余。
更新時間:2025-08-04
德國NETZSCH 閃射法導熱儀
lfa 467 hyperflash 閃射法導熱儀，自由選擇測試氣氛，優(yōu)化結構設置與閃射光源，16位自動進樣器，高的測量效率，寬廣的溫度范圍，靈活配備冷卻系統(tǒng)，設計獨特，性能優(yōu)異，配備氙燈光源的，高溫測試系統(tǒng)，寬廣的溫度范圍，真空密閉爐體，確保氣氛純凈，防止氧化，內置微型管式爐，更高的測量效率，高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導熱材料的解決方案
更新時間:2025-08-04
OAI UV METER
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時間:2025-08-04
YY 9706.241-2020診斷用照明燈輻擊照度測試解決方案
無影燈光色測試儀是依據(jù)標準yy 9706.241-2020醫(yī)用電氣設備 第2-41部分: 手術無影燈和診斷用照明燈的基本安全和基本性能用要求研發(fā)設計的。
更新時間:2025-08-04
智能尖軌降低值測量儀,數(shù)顯尖軌測量尺
尖軌自身的加工誤差和尖軌磨損導致輪對與直尖軌和基本軌組合受力不良，直尖軌降低值不符合要求是道岔晃車的根本原因和引起晃車的重要原因。hyjg-1智能尖軌降低值測量儀是用來測量尖軌相對于基本軌的降低值以及心軌相對于翼軌的降低值的用儀器。
更新時間:2025-08-04
激光鐵路隧道限界測量儀,隧道斷面及設備限界測量儀,生成隧道輪廓圖形
hyxj-1激光鐵路限界測量儀可對隧道限界、鐵路限界（如站臺、信號機、風雨棚等）、橋梁、跨線橋、車站附屬物限界、軌道相對隧道位置等數(shù)據(jù)進行準確測量，也可快速的測量鐵路、地鐵、城市軌道的站臺及附屬物限界尺寸和地下曲線車站站臺邊緣至機車輪廓線間間隔及附屬物全斷面、分斷面、單點限界。測量軟件并自動判斷是否超限，自動生成圖形和限界報表。
更新時間:2025-08-04
電子鋼軌平直度測量儀,鋼軌焊縫平直度測量儀,鋼軌焊接接頭平直度檢測儀
hyrs-5電子鋼軌平直度測量儀采用非接觸式的激光傳感器測量，可測量垂直和水平兩個方向的平順度情況，適用于測量鋼軌焊補、接頭以及絕緣軌接頭的平順度，還可以對鋼軌的垂直面的磨損程度進行評估。在測量過程中還可以采用重疊法，對鋼軌磨損的測量長度能夠超過設備本身的長度，不僅適用于對短距離波形范圍（0.03-0.3米）的鋼軌磨損情況評估，也適用于對長距離波形范圍（0.3-1米、1-3米、10米）的鋼軌磨損情
更新時間:2025-08-04

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