光學(xué)測量儀產(chǎn)品及廠家

三豐SJ-500P數(shù)據(jù)處理裝置(PC)表面粗糙度測量儀
三豐sj-500p數(shù)據(jù)處理裝置(pc)表面粗糙度測量儀它配置高可見度7.5英寸tht lcd屏幕,彩色圖標(biāo)顯示、觸控式面板,顯示目了然,操作簡單。
更新時(shí)間:2025-12-15
三豐SV-2100M4數(shù)據(jù)處理裝置(PC)表面粗糙度測量儀
三豐sv-2100m4數(shù)據(jù)處理裝置(pc)表面粗糙度測量儀它顯示目了然,操作簡單。配置高可見度7.5英寸tht lcd屏幕,彩色圖標(biāo)顯示、觸控式面板,顯示更清晰,操作更簡單。
更新時(shí)間:2025-12-15
三豐SV-3200S4表面粗糙度測量儀
三豐sv-3200s4表面粗糙度測量儀它配有多種參數(shù),評(píng)估型表面粗糙度測量儀同時(shí)配置分析功能。
更新時(shí)間:2025-12-15
三豐SV-3200H4表面粗糙度測量儀
三豐sv-3200h4表面粗糙度測量儀它配有多種參數(shù),評(píng)估型表面粗糙度測量儀同時(shí)配置分析功能。
更新時(shí)間:2025-12-15
三豐SV-3200W4表面粗糙度測量儀
三豐sv-3200w4表面粗糙度測量儀它配有多種參數(shù),評(píng)估型表面粗糙度測量儀同時(shí)配置分析功能。
更新時(shí)間:2025-12-15
三豐SV-3200S8表面粗糙度測量儀
三豐sv-3200s8表面粗糙度測量儀它配有多種參數(shù),評(píng)估型表面粗糙度測量儀同時(shí)配置分析功能。
更新時(shí)間:2025-12-15
三豐SV-3200H8表面粗糙度測量儀
三豐sv-3200h8表面粗糙度測量儀它配有多種參數(shù),評(píng)估型表面粗糙度測量儀同時(shí)配置分析功能。
更新時(shí)間:2025-12-15
三豐SV-3200W8表面粗糙度測量儀
三豐sv-3200w8表面粗糙度測量儀它配有多種參數(shù),評(píng)估型表面粗糙度測量儀同時(shí)配置分析功能。
更新時(shí)間:2025-12-15
三豐SV-3000CNC超表面粗糙度測量儀
三豐sv-3000cnc超表面粗糙度測量儀它能夠出色適用在檢測室、加工車間、生產(chǎn)現(xiàn)場等場合。超表面粗糙度測量儀sv-3000cnc(帶可移動(dòng)y軸立柱裝置的cnc表面粗糙度測量儀)可測量發(fā)動(dòng)機(jī)組、機(jī)軸等大型/重型工件。它通過可選的外部控制功能(外部i/o),可以實(shí)現(xiàn)plc(可編程控制器)雙向通訊(rs-232c)。
更新時(shí)間:2025-12-15
三豐SV-M3000CNC超表面粗糙度測量儀
三豐sv-m3000cnc超表面粗糙度測量儀它能夠出色適用在檢測室、加工車間、生產(chǎn)現(xiàn)場等場合。其所有連接電纜均納入測量儀器,以消除測量過程中的不便之處,它通過可選的外部控制功能(外部i/o),可以實(shí)現(xiàn)plc(可編程控制器)雙向通訊(rs-232c)。
更新時(shí)間:2025-12-15
三豐CV-3200S4輪廓測量儀
三豐cv-3200s4輪廓測量儀,它是在z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂的輪廓測量儀。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡,以實(shí)現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號(hào)相比,新測臂使z1軸測量范圍增大了10mm同時(shí)減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性銜接件,單此接觸就能完成測臂的裝卸,提高了易用性。
更新時(shí)間:2025-12-15
三豐CV-3200H4輪廓測量儀
三豐cv-3200h4輪廓測量儀,它是在z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂的輪廓測量儀。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡,以實(shí)現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號(hào)相比,新測臂使z1軸測量范圍增大了10mm同時(shí)減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性銜接件,單此接觸就能完成測臂的裝卸,提高了易用性。
更新時(shí)間:2025-12-15
三豐CV-3200W4輪廓測量儀
三豐cv-3200w4輪廓測量儀,它是在z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂的輪廓測量儀。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡,以實(shí)現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號(hào)相比,新測臂使z1軸測量范圍增大了10mm同時(shí)減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性銜接件,單此接觸就能完成測臂的裝卸,提高了易用性。
更新時(shí)間:2025-12-15
ErgoLABOMS材料物理光學(xué)屬性測量儀
oms2材料物理光學(xué)屬性brdf測量儀,用于測量光學(xué)材料表面brdf光學(xué)屬性以及材料體光學(xué)屬性,測量出的數(shù)據(jù)經(jīng)過oms2數(shù)據(jù)處理軟件的擬合,得出.brdf格式的文件,這些文件都攜帶了材料的表面光學(xué)屬性和體光學(xué)屬性。這些數(shù)據(jù)文件可在oms2支
更新時(shí)間:2025-12-15
供應(yīng)天然花崗石平板,1000*750mm ,測高儀專用測量平臺(tái)
供應(yīng)天然花崗石平板,1000*750mm ,測高儀專用測量平臺(tái)具有精度高、不生銹、耐酸堿、不磁化、不變型、耐磨性好等優(yōu)點(diǎn)。能在重負(fù)荷及般溫度下保持穩(wěn)定。我公司生產(chǎn)的大理石平板精密量具,采用優(yōu)質(zhì)天然大理石平板料經(jīng)機(jī)械加工,手工精研而成。
更新時(shí)間:2025-12-15
BeamWatch Integrated自動(dòng)激光測量儀
beamwatch integrated自動(dòng)激光測量儀用于自動(dòng)化制造的光束表征系統(tǒng) 實(shí)時(shí)自動(dòng)測量激光功率、焦散和焦點(diǎn)偏移支持單模激光器全自動(dòng)操作帶有好/壞信號(hào)的趨勢分析帶有時(shí)間戳的詳細(xì)報(bào)告無需更改測量系統(tǒng)即可使用不同類型的焊頭堅(jiān)固耐用,適用于工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境輪班操作中頻繁測量的短測量時(shí)間
更新時(shí)間:2025-12-15
LZ-M200Q密封圈檢測儀
公司于高速智能制造,從事光學(xué)精密測量儀器及視覺檢測領(lǐng)域的技術(shù)研發(fā)、設(shè)備制造和工程實(shí)施。業(yè)務(wù)涵蓋新能源,電動(dòng)汽車、半導(dǎo)體/led、智能家居、電子產(chǎn)品、精密五金模具等領(lǐng)域,提供精密制造測量儀器及視覺檢測設(shè)備、機(jī)器人等智能裝備整體解決方案提供商
更新時(shí)間:2025-12-15
NIR100近紅外光譜儀
nir100近紅外光譜儀nir100紅外光譜儀具有高靈敏度和緊湊型設(shè)計(jì) ,可在780-1700 nm光譜范圍內(nèi)與多種光源配合使用。其精密工程設(shè)計(jì)、無移 動(dòng)部件以及非制冷線性ingaas傳感器的特點(diǎn) ,使其成為各種光譜應(yīng)用的理想選擇 ,且無需長期信號(hào)存儲(chǔ)。
更新時(shí)間:2025-12-15
Cobra-S 800 超高速光譜儀
cobra-s 800 超高速光譜儀產(chǎn)品應(yīng)用皮膚科眼前節(jié)成像亞表面材料檢查血管造影測振實(shí)時(shí)3d成像
更新時(shí)間:2025-12-15
FS70L-TH 用于半導(dǎo)體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 TV接口激光)
fs70l-th 用于半導(dǎo)體檢測顯微鏡 (1x管鏡頭 tv接口激光)應(yīng)用:切割、修整、校正、 給半導(dǎo)體電路做標(biāo)記薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(fù)(校正錯(cuò)誤)。還可用作光學(xué)觀察剖面圖以便探針分析半導(dǎo)體故障。? 可用于紅外光學(xué)系統(tǒng)*。
更新時(shí)間:2025-12-15
INT10-M邁克爾遜 PLX 單片干涉儀(中紅外 FTIR 光譜儀組件)
int10-m邁克爾遜 plx 單片干涉儀(中紅外 ftir 光譜儀組件)產(chǎn)品應(yīng)用中紅外光譜分析儀
更新時(shí)間:2025-12-15
BladeCam2-HR-1310 CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1350nm
bladecam2-hr-1310 cmos基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1350nm 產(chǎn)品應(yīng)用連續(xù)激光的光束分析激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn)光束漂移和記錄使用 m2du 平臺(tái)測量 m?
更新時(shí)間:2025-12-15
低噪聲高速近紅外InGaAs相機(jī)
snake 是新一代的vga格式的ingaas近紅外相機(jī),具有即插即用能力。工作在900-1700nm的swir光譜范圍,該紅外相機(jī)具有出色的性能,在靈敏度,噪聲,暗電流和操作方便性都具有非常高的優(yōu)勢。該相機(jī)提供了oem版本,集成模塊化接口設(shè)計(jì),易于集成于用戶的系統(tǒng)中,同時(shí)可提供數(shù)據(jù)處理能力?蓱(yīng)用于高光譜儀器,激光束分析,半導(dǎo)體檢測,生物醫(yī)學(xué)研究和國防等。
更新時(shí)間:2025-12-15
微型高精度光譜儀
asp-75微型高精度光譜儀占地面積小,重量為300克。該設(shè)計(jì)的簡單性允許將寬光譜范圍和高分辨率與超過緊湊尺寸相結(jié)合。asp-75微型高精度光譜儀可用于各種空間要求苛刻的應(yīng)用,也可用于任何設(shè)備的oem集成。該裝置具有特殊的光纖輸入和光譜狹縫,光纖狹縫的大小由探測器調(diào)節(jié)。它允許測量自由空間或光纖信號(hào)而無需任何重新對(duì)準(zhǔn)。但是,由于光纖中信號(hào)調(diào)制和隨后的頻譜失真,不建議使用光纖測量飛秒激光的頻譜。
更新時(shí)間:2025-12-15
太赫茲近場探針
thz,太赫茲,近場探針,太赫探測,thz near-field optical probe,太赫茲近場探測,太赫茲近場探針,thz近場探測,thz探針,thz近場探針
更新時(shí)間:2025-12-15
磁光克爾效應(yīng)磁滯回線測量儀 磁滯回線測量儀
 從當(dāng)下主流的機(jī)械硬盤,到未來的磁性存儲(chǔ)單元,磁滯回線測量都是評(píng)估薄膜性質(zhì)的重要手段。 相較于電學(xué)霍爾測量和震動(dòng)磁強(qiáng)計(jì),光磁克爾效應(yīng)具有測量速度快,精度高,非侵入,且不需要對(duì)樣品進(jìn)行加工或切
更新時(shí)間:2025-12-15
半球發(fā)射率測量儀 AE1/RD1  美 D&S  現(xiàn)貨 原裝進(jìn)口
半球發(fā)射率測量儀ae1 rd1是用于測量發(fā)射率的用儀器。低溫加熱被測樣品,儀器通過探測器接受樣品材料表面輻射出來的紅外能量后換算出發(fā)射率,根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)體發(fā)射率準(zhǔn)參數(shù),計(jì)算并讀出被測樣品發(fā)射率。
更新時(shí)間:2025-12-15
上海 半球發(fā)射率測量儀 AE1/RD1  美 D&S  現(xiàn)貨 原裝進(jìn)口
半球發(fā)射率測量儀ae1 rd1是用于測量發(fā)射率的用儀器。低溫加熱被測樣品,儀器通過探測器接受樣品材料表面輻射出來的紅外能量后換算出發(fā)射率,根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)體發(fā)射率準(zhǔn)參數(shù),計(jì)算并讀出被測樣品發(fā)射率。
更新時(shí)間:2025-12-15
卡爾費(fèi)休水分儀 CA-310  三菱化學(xué)  現(xiàn)貨  庫倫法/容量法
半球發(fā)射率測量儀ae1 rd1是用于測量發(fā)射率的用儀器。低溫加熱被測樣品,儀器通過探測器接受樣品材料表面輻射出來的紅外能量后換算出發(fā)射率,根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)體發(fā)射率準(zhǔn)參數(shù),計(jì)算并讀出被測樣品發(fā)射率。
更新時(shí)間:2025-12-15
AE1/RD1半球發(fā)射率測量儀 輻照率測量儀
半球發(fā)射率測量儀 ae1/ rd1 是用于測量發(fā)射率的專用儀器。符合《astm c1371》、《jg_t 235-2014 建筑反射隔熱涂料》、《gbt 25261-2010 建筑用反射隔熱涂料》等國家標(biāo)準(zhǔn),是建筑涂料行業(yè),新能源材料研究,航空航天材料研發(fā)檢測的必需品。
更新時(shí)間:2025-12-15
100℃-1500℃高溫黑體輻照源
qf 系列高溫黑體校準(zhǔn)源覆蓋 100℃ 至 1500℃ 溫度范圍,采用 25.4mm 孔徑封閉管腔設(shè)計(jì)。qf-1500 黑體校準(zhǔn)源硅鉬棒便于更換,維護(hù)便捷的特點(diǎn)使其適用于實(shí)驗(yàn)室及工業(yè)領(lǐng)域的高溫校準(zhǔn)需求。
更新時(shí)間:2025-12-15
-70℃至105℃超低溫黑體輻射源
t-r系列專為低溫至105攝氏度的市場設(shè)計(jì),其溫度范圍甚至可低于零下70攝氏度。該系列的高精度和易用性使其成為實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)應(yīng)用中理想的溫度校準(zhǔn)工具。
更新時(shí)間:2025-12-15
-30°C-150°C低溫半導(dǎo)體黑體輻射源
sw-dt-r 系列低溫黑體校準(zhǔn)源覆蓋-30°c至150°c寬廣溫區(qū),為低溫至中溫校準(zhǔn)場景提供支持。
更新時(shí)間:2025-12-15
0℃~125℃超精密面源差分黑體
hy-ms系列超精密面源黑體可輸出標(biāo)準(zhǔn)紅外輻射,為紅外成像器的地面輻射定標(biāo)試驗(yàn)與性能測試提供穩(wěn)定基準(zhǔn)。該系列采用tec溫度驅(qū)動(dòng)方式,搭配自主研發(fā)的溫度控制系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)寬溫范圍內(nèi)的精確調(diào)控。憑借高發(fā)射率、高均勻性與高控溫精度的特性,hy-ms 系列超精密面源黑體能夠滿足實(shí)驗(yàn)室、外場等多種場景下,紅外成像器輻射定標(biāo)與非均勻性校正的應(yīng)用需求。
更新時(shí)間:2025-12-15
+5℃~550℃高溫面源黑體
hy-mq系列高溫面源黑體作為一直高輻射強(qiáng)度的參考源,設(shè)備支持環(huán)境溫度+5℃~550℃的絕對(duì)溫度調(diào)節(jié),輻射面具備高均勻度與高發(fā)射率特點(diǎn),溫度分辨率達(dá)0.01k,且能在20℃~70℃的環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行,廣泛應(yīng)用于紅外傳感器如輻射溫度計(jì)、紅外熱像儀的校準(zhǔn)以及樣品輻射率或透過率的測量。
更新時(shí)間:2025-12-15
+5℃~200℃中溫面源黑體
hy-mh系列中溫面源黑體采用薄膜型加熱器件驅(qū)動(dòng)溫度,搭配自主研發(fā)的溫度控制系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)寬溫范圍的精確調(diào)控。該設(shè)備兼具高均勻性、高發(fā)射率、高集成度與標(biāo)準(zhǔn)化程度,采購成本更具優(yōu)勢,適用于實(shí)驗(yàn)室與外場等多種場景下的紅外成像器輻射定標(biāo)及非均勻性校正工作。
更新時(shí)間:2025-12-15
150K~450K超低溫面源黑體
hy-ml系列超低溫面源黑體為真空環(huán)境適用的面源黑體產(chǎn)品,其溫度控制采用薄膜型加熱器件,主動(dòng)降溫則通過液氮或低溫循環(huán)氦氣實(shí)現(xiàn)。搭配自主研發(fā)的溫度控制系統(tǒng)后,能夠在較寬的溫度區(qū)間內(nèi)(150k~450k,低溫均可擴(kuò)展至40k)實(shí)現(xiàn)調(diào)控。該面源黑體具有溫度均勻性好、發(fā)射率高的特點(diǎn),同時(shí)集成化與標(biāo)準(zhǔn)化程度較高,可應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室及真空低溫環(huán)境下紅外成像器的輻射定標(biāo)和非均勻性校正工作。
更新時(shí)間:2025-12-15
3000℃超高溫黑體校準(zhǔn)源
產(chǎn)品具備快速加熱、高精度和移動(dòng)式設(shè)計(jì)等顯著優(yōu)勢。相比國外同級(jí)別設(shè)備體積龐大、需專用空間的痛點(diǎn),kf-h3000 采用立體滾輪設(shè)計(jì),在保持同等高強(qiáng)性能的同時(shí),大幅縮減空間占用,使用更靈活高效。
更新時(shí)間:2025-12-15
RLK650 pro便攜式紅外發(fā)射率測量儀
rlk650 pro便攜式紅外發(fā)射率測量儀,是新型的光電測量儀器。其基于定向半球反射比(dhr)測量原理,完成雙波段(3-5um和8-14um)發(fā)射率/反射率的測量,測量結(jié)果保存儀器內(nèi)存中,可下載至sd卡。其采用一體化便攜式手持設(shè)計(jì),觸摸屏操作,具有檢測速度快、精度高、體積小、重量輕、操作簡便等優(yōu)點(diǎn)。廣泛應(yīng)用于材料表面紅外發(fā)射率的測量、材料研究,是現(xiàn)代科研與軍事研究不可或缺的光電測量儀器。
更新時(shí)間:2025-12-15
意大利Dynamic Optics自適應(yīng)透鏡Dynamic Optics
dynamic optics以自適應(yīng)光學(xué)技術(shù)的領(lǐng)導(dǎo)者為企業(yè)發(fā)展目標(biāo)。在成像和激光處理中,要求對(duì)光學(xué)系統(tǒng)中使用的光學(xué)器件進(jìn)行可調(diào)諧調(diào)制----離焦調(diào)整、像差校正、光整形。dynamic optics可變形光學(xué)元件和波前傳感測量為各種應(yīng)用提供了創(chuàng)新解決方案?梢蕴峁┆(dú)特的透射波前調(diào)制器、超高反射率可變形反射鏡和波前傳感測量的解決方案。
更新時(shí)間:2025-12-15
意大利Dynamic Optics高速可變形鏡頭
快速對(duì)焦鏡頭是一種調(diào)焦模塊,可安裝在固定焦距鏡頭前,以快速改變焦距,使用戶能夠比使用傳統(tǒng)機(jī)械移動(dòng)鏡頭更快的重新聚焦鏡頭。其內(nèi)置驅(qū)動(dòng)器專門用于精確控制壓電元件。該庫包括自動(dòng)聚焦算法和校準(zhǔn)工具,幫助用戶將ao模塊集成到其產(chǎn)品或應(yīng)用程序中。
更新時(shí)間:2025-12-15
Fluence Blueback: 基于SPIDER的飛秒激光超短脈沖測量儀
fluence blueback:基于spider的飛秒激光超短脈沖測量儀是一款實(shí)時(shí)超短激光脈沖測量儀,為超快振蕩器和放大器提供高分辨率測量。通過使用fluence blueback,用戶可以實(shí)時(shí)觀察脈沖的變化,以此獲得超短脈沖特性的準(zhǔn)確信息。
更新時(shí)間:2025-12-15
MS-ROC多次自相關(guān)儀
ms-roc(multi-shot row optical autocorrelator)使用二階掃描自相關(guān)實(shí)現(xiàn)脈沖寬度測量。它基于邁克爾遜干涉儀和二次諧波生成(shg 自相關(guān))。不同的型號(hào)允許分析低至 4 fs 的超短脈沖和 80 ps 的長脈沖,即使對(duì)于 pj 和 nj 范圍內(nèi)的低脈沖能量也是如此。高達(dá) 130ps/s 的高掃描速度是實(shí)時(shí)測量的理想選擇。
更新時(shí)間:2025-12-15
MIKS系列脈沖壓縮器
n2-photonics提供的miks系列脈沖壓縮器,可以光譜展寬和時(shí)間壓縮您的脈沖。輸出的脈沖寬度取決于輸入的脈沖寬度。特點(diǎn):全天候穩(wěn)定運(yùn)行;輕松與現(xiàn)有激光系統(tǒng)集成;無有源光學(xué)元件;無機(jī)械移動(dòng)部件;無需維護(hù)、可在惡劣環(huán)境中運(yùn)行
更新時(shí)間:2025-12-15
德國EMO 紅外觀察鏡/紅外夜視儀
德國emo公司的86600和86910紅外觀察儀選用與7215同款顯像管6914,具有較好的分辨率和靈敏度。是一個(gè)高性能,手持式近紅激光外觀察儀?捎糜诩t外激光光路調(diào)節(jié)、激光器組裝精密小孔對(duì)準(zhǔn)、熒光觀察等。
更新時(shí)間:2025-12-15
輪廓測量投影儀批發(fā),電線電纜廠用投影儀,低價(jià)電纜外被測量投影儀
輪廓測量投影儀批發(fā),電線電纜廠用投影儀,低價(jià)電纜外被測量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2025-12-15
影像測量儀,二次元影像測量儀,二次元測量儀
影像測量儀,二次元影像測量儀,二次元測量儀主要是彌補(bǔ)了傳統(tǒng)投影儀的不足,采用攝像機(jī)將待測物體拍攝成圖像,再傳輸?shù)诫娔X,然后用專業(yè)的影像測量軟件,便能高效檢測各種復(fù)雜工件的輪廓、表面形狀尺寸、角度及位置。
更新時(shí)間:2025-12-15
線纜絕緣層測量投影儀哪家好,輪廓測量投影儀的價(jià)格,絕緣護(hù)套檢測投影儀多少錢
線纜絕緣層測量投影儀哪家好,輪廓測量投影儀的價(jià)格,絕緣護(hù)套檢測投影儀多少錢被測工件y置于工作臺(tái)上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實(shí)像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
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測量數(shù)顯投影儀
電線電纜測量數(shù)顯投影儀的詳細(xì)描述: 電線電纜測量數(shù)顯投影儀主要技術(shù)參數(shù): 1)電線電纜測量數(shù)顯投影儀投影屏面徑:¢300mm,內(nèi)刻式米字線,永不磨損。 2)電線電纜測量數(shù)顯投影儀旋轉(zhuǎn)角度數(shù)顯顯示值:0.01°或者1′
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線纜厚度分析測量投影儀,最新電纜外被測量投影儀價(jià)格,最實(shí)惠機(jī)械測量投影儀
線纜厚度分析測量投影儀,最新電纜外被測量投影儀價(jià)格,最實(shí)惠機(jī)械測量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
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最新產(chǎn)品

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